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シリカ微粒子表面にMMA、LMA、CBMAを用いて共重合体ブラシを付与し、その複合微粒子周辺の5CBの配向状態を偏光顕微鏡により観察した。P(MMA-r-LMA)ブラシを付与した微粒子は、Hexadecapolar colloidと呼ばれる配向構造が観察された。P(MMA-r-CBMA)ブラシを付与した微粒子では、ブラシ分子量が小さいときには、垂直配向を示すHedgehog defect、そして分子量が大きくなるに従い、Saturn ring defect、Hexadecapolar colloid、最終的には、Boojum defectが観察された。
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