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2017 年度 研究成果報告書

走査型電子顕微鏡下における微小構造体の疲労試験・観察の一貫システムの構築

研究課題

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研究課題/領域番号 15H03942
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 知能機械学・機械システム
研究機関東京大学

研究代表者

土屋 健介  東京大学, 生産技術研究所, 准教授 (80345173)

研究分担者 柿内 利文  岐阜大学, 工学部, 准教授 (20452039)
研究期間 (年度) 2015-04-01 – 2018-03-31
キーワード疲労試験 / 微小構造体 / 電子顕微鏡 / マイクロマニピュレータ / 力センサ
研究成果の概要

本研究では、微小構造体の疲労試験を電子顕微鏡観察下で行う一貫システムを構築した。微小構造体はマクロ構造体とは違う疲労特性を持つと言われていたが、観察、加振、応力-ひずみ測定が困難であることから、微小構造体の疲労試験はこれまでほとんど行われてこなかった。本研究では、微小力センサを有する多軸のマイクロマニピュレータを用いることで、荷重方向、加振条件を自由に設定し、様々な条件の疲労試験を可能にした。また、疲労試験自体を電子顕微鏡観察下で行い、疲労破壊にいたるまでの材料のミクロ構造の変化と、構造体の挙動をその場で観察・分析することで、微小構造体の疲労破壊に特有のメカニズムを詳細に解明した。

自由記述の分野

機械工学

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公開日: 2019-03-29  

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