| 研究課題/領域番号 |
15H04115
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
金属物性・材料
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| 研究機関 | 名古屋大学 |
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研究代表者 |
巽 一厳 名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 准教授 (00372532)
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| 連携研究者 |
武藤 俊介 未来材料・システム研究所, 教授 (20209985)
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| 研究協力者 |
Rusz Jan ウプサラ大学, 天文物理学研究所, 助教授
Spiegelberg Jakob ウプサラ大学, 天文物理学研究所
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
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| キーワード | 走査透過電子顕微鏡 / 電子線エネルギー損失分光 / 電子磁気円二色性 / 電子磁気直線二色性 / 統計解析 |
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| 研究成果の概要 |
本研究の目的は、わずか10 nmの結晶サイズで足る、物質中のスピン状態の新しい元素選択的計測法を構築し、スピントロニクス材料のナノスピンイメージングに応用することである。
電子磁気直線二色性信号(EMLD)は，スピンモーメントの大きなスピネル酸化物で有意な差スペクトルを計測した．特型EELS絞りを用いた電子磁気円二色性(EMCD)は，装置の不安定性により望みの信号を得られていない．鉄のL2,3端EELSを計測しそのデータを統計解析することで，理論予測された原子面分解能EMCDを実証した．これは，条件付きではあるが，目標に掲げた10nmの結晶サイズでのスピン状態の分析法を達成したと言える．
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| 自由記述の分野 |
材料科学
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