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2017 年度 実績報告書

超高精度光ナノグリッド基準と光絶対スケールコムの創出が拓く精密光計測フロンティア

研究課題

研究課題/領域番号 15H05759
研究機関東北大学

研究代表者

高 偉  東北大学, 工学研究科, 教授 (70270816)

研究分担者 清水 裕樹  東北大学, 工学研究科, 准教授 (70606384)
陳 遠流  東北大学, 工学研究科, 准教授 (90794058)
研究期間 (年度) 2015-05-29 – 2020-03-31
キーワード超精密計測 / 生産工学 / 加工学
研究実績の概要

本研究では,独自のマルチビーム干渉光学系と新たな偏光変調制御法の開発によって,高安定光ナノグリッド基準を高精度・高効率で製作できる2軸光干渉リソグラフィ加工システムを提案するとともに,ナノグリッド基準の平面度と2軸ピッチ誤差を評価用レーザ干渉形状測定機の誤差から分離して短時間で超高精度に評価する誤差分離型一括自律校正法を提案し,大面積に渡って高精度に保証した光ナノグリッド基準を活用して,多軸光計測法を創出することによって,超精密光計測学のフロンティアを拓くことを研究の目的としている.
本年度は,前年度までに構築した直交型2軸ロイドミラー干渉計の問題点を原理的に解決する,非直交型2軸ロイドミラー干渉計光学系を構築するとともに,これにより100mm×100mmの大面積領域にわたり2軸ナノグリッド定在波を生成できることを明らかにした.さらに,フォトレジスト露光・現像時間について最適化を試み,100mm×100mmサイズの大型ガラス基板上に塗布したフォトレジストに安定転写する手法の確立に成功した.
また,前年度までに立ち上げた光ナノグリッド基準の自律校正システムを用いた大面積光ナノグリッド評価を試み,提案手法により100mm×100mm超の領域にわたりマイクロメートル級のナノグリッド基準を評価できることを実験的に明らかにした.なお,ナノグリッド基準評価に関連して,光周波数コムをベースとしたトレーサブルな格子ピッチ絶対校正手法も開発し,サブnm級の高精度格子ピッチ評価を実現している.
さらに,精密光計測フロンティアのさらなる開拓に向け,研究遂行中に新たに生まれたアイディアをもとに,当初計画にない光周波数コム共焦点プローブ開発も推進し,従来手法では困難であった変位分解能30nmを,広測定レンジに渡って実現できることを理論的検討と試作光学系による実験で実証した.

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

1: 当初の計画以上に進展している

理由

研究実施計画の項目に沿って研究を実施し,予定の項目をすべて完成し,設定した目標を達成している.
マルチビーム干渉法と偏光変調制御法に立脚した2軸干渉グリッド定在波生成光学系構築については,当初検討していた直交型干渉計の原理的問題を明らかにするとともに,新たに非直交型2軸干渉計光学系を提案し,100mm四方の大面積光2軸ナノグリッド基準を一括で露光可能であることを実証している.
大面積光ナノグリッド基準の一括・高速自律校正システムの開発 については,当初の予定どおり干渉計の参照面誤差を分離評価する自律校正手法のシミュレーションによる妥当性検証,およびレーザ干渉形状測定機向けに構築した自律校正アルゴリズムをベースとした小面積XYスケール評価実験による原理検証を終え,100mm×100mm大面積XYスケールの平面度誤差,ピッチ誤差の絶対校正精度検証を実施してその有効性を理論的および実験的に明らかにしている.
また,ナノグリッド基準の格子ピッチ評価について,光周波数コムをベースとしたトレーサブルな格子ピッチ絶対校正手法を新たに提案し,実験的に原理検証してサブnm級の高精度格子ピッチ評価の実現可能性を見出している.さらに,精密光計測フロンティアのさらなる開拓に向け,研究遂行中に新たに生まれたアイディアをもとに,当初計画にない光周波数コム共焦点プローブ開発も推進し,従来手法では困難であった変位分解能30nmを,広測定レンジ(40μm)に渡って実現できることを理論的検討と試作光学系による実験で実証している.

以上のように予定の項目をすべて完成し,設定した目標を達成するとともに,精密光計測フロンティアのさらなる開拓に向け,当初予定になかった項目についても理論的・実験的アプローチで検討を進めていることから,現在の進捗状況を「当初の計画以上に進展している」と自己評価している.

今後の研究の推進方策

当初予定の実施計画のとおりに実施する予定である.
4年目となる平成30年度は,平成29年度までに安定生成を実現した大面積XYナノグリッド基準の,光絶対スケールコム光学系への適用を試みる.大面積XYナノグリッド基準面から反射されたフェムト秒レーザビームの0次と±1次光を利用することによって,光周波数コムを6自由度変位角度絶対スケールコムに変換させる光学系を設計する.複数のグリッド基準による大面積化に対応できるモザイク光学系も合わせて設計する.これに合わせて,光絶対スケールコム光学系の最適化を図る.ビームエキスパンダーにより受光素子上の光スポット径を調整して,適切なファブリペローエタロンの選択により光スポット群の間引き間隔を調整することで感度を最大化する.センサ用機械部品は低熱膨張材料を選び,信号処理に必要な高精度電子回路を作成する.
また,精密光計測フロンティアのさらなる開拓,および多軸絶対光スケールコムの普及と産業応用展開を見据えて進めているファイバベース光周波数コム光源の開発についても検討を継続するとともに,新たに追加して検討を進めている光周波数コム共焦点プローブも開発を継続し,3次元プロファイルの高精度迅速計測実現の可能性を模索する.

  • 研究成果

    (40件)

すべて 2018 2017 その他

すべて 雑誌論文 (13件) (うち国際共著 9件、 査読あり 13件、 オープンアクセス 6件) 学会発表 (25件) (うち国際学会 14件、 招待講演 4件) 図書 (1件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Design and testing of a compact non-orthogonal two-axis Lloyd's mirror interferometer for fabrication of large-area two-dimensional scale gratings2018

    • 著者名/発表者名
      Yuki Shimizu, Ryo Aihara, Kazuki Mano, Chong Chen, Yuanliu Chen, Xiuguo Chen, Wei Gao
    • 雑誌名

      Precision Engineering

      巻: in press ページ: in press

    • DOI

      https://doi.org/10.1016/j.precisioneng.2017.12.004

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] An ultra-precision tool nanoindentation instrument for replication of single point diamond tool cutting edges2018

    • 著者名/発表者名
      Yindi Cai, Yuan-Liu Chen, Malu Xu, Yuki Shimizu, So Ito, Hiraku Matsukuma and Wei Gao
    • 雑誌名

      Measurement Science and Technology

      巻: 29 ページ: 054004 (12 pp)

    • DOI

      https://doi.org/10.1088/1361-6501/aaa913

    • 査読あり
  • [雑誌論文] A chromatic confocal probe with a mode-locked femtosecond laser source2018

    • 著者名/発表者名
      Xiuguo Chen, Taku Nakamura, Yuki Shimizu, Chong Chen, Yuan-Liu Chen, Hiraku Matsukuma, Wei Gao
    • 雑誌名

      Optics and Laser Technology

      巻: 103 ページ: 359-366

    • DOI

      https://doi.org/10.1016/j.optlastec.2018.01.051

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Generalized method for probing ideal initial polarization states in multibeam Lloyd’s mirror interference lithography of 2D scale gratings2018

    • 著者名/発表者名
      Xiuguo Chen, Yuki Shimizu, Chong Chen, Yuan-Liu Chen, Wei Gao
    • 雑誌名

      Journal of Vacuum Science & Technology B

      巻: 36 ページ: 021601 (10 pp)

    • DOI

      https://doi.org/10.1116/1.5016505

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] A Liquid-Surface-Based Three-Axis Inclination Sensor for Measurement of Stage Tilt Motions2018

    • 著者名/発表者名
      Yuki Shimizu, Satoshi Kataoka, Tatsuya Ishikawa, Yuan-Liu Chen, Xiuguo Chen, Hiraku Matsukuma and Wei Gao
    • 雑誌名

      Sensors

      巻: 18 ページ: 398 (22 pp)

    • DOI

      https://doi.org/10.3390/s18020398

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著
  • [雑誌論文] Error separation method for precision measurement of the Run-Out of a microdrill bit by using a laser scan micrometer measurement system2018

    • 著者名/発表者名
      Zengyuan Niu, Yuan-Liu Chen, Yuki Shimizu, Hiraku Matsukuma, and Wei Gao
    • 雑誌名

      Journal of Manufacturing and Materials Processing

      巻: 2 ページ: 4 (12 pp)

    • DOI

      https://doi.org/10.3390/jmmp2010004

    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Implementation and verification of a four-probe motion error measurement system for a large-scale roll lathe used in hybrid manufacturing2017

    • 著者名/発表者名
      Yuan-Liu Chen, Zengyuan Niu, Daiki Matsuura, Jung Chul Lee, Yuki Shimizu, Wei Gao, Jeong Seok Oh and Chun Hong Park
    • 雑誌名

      Measurement Science and Technology

      巻: 28 ページ: 105004 (16 pp)

    • DOI

      https://doi.org/10.1088/1361-6501/aa7d33

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Self-calibration of Fizeau interferometer and planar scale gratings in Littrow setup2017

    • 著者名/発表者名
      Xiuguo Chen, Yuki Shimizu, Xin Xiong, Yuan-Liu Chen AND Wei Gao
    • 雑誌名

      Optics Express

      巻: 25 ページ: 21567-21582

    • DOI

      https://doi.org/10.1364/OE.25.021567

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著
  • [雑誌論文] Optimal polarization modulation for orthogonal two-axis Lloyd's mirror interference lithography2017

    • 著者名/発表者名
      Xiuguo Chen, Zongwei Ren, Yuki Shimizu, Yuan-Liu Chen, and Wei Gao
    • 雑誌名

      Optics Express

      巻: 25 ページ: 22237-22252

    • DOI

      https://doi.org/10.1364/OE.25.022237

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著
  • [雑誌論文] An edge reversal method for precision measurement of cutting edge radius of single point diamond tools2017

    • 著者名/発表者名
      Yuan-Liu Chen, Yindi Cai, Malu Xu, Yuki Shimizu, So Ito and Wei Gao
    • 雑誌名

      Precision Engineering

      巻: 50 ページ: 380-387

    • DOI

      https://doi.org/10.1016/j.precisioneng.2017.06.012

    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Optical frequency domain angle measurement in a femtosecond laser autocollimator2017

    • 著者名/発表者名
      Yuan-Liu Chen, Yuki Shimizu, Jun Tamada, Yukitoshi Kudo, Shuhei Madokoro, Kazuki Nakamura and Wei Gao
    • 雑誌名

      Optics Express

      巻: 25 ページ: 16725-16738

    • DOI

      https://doi.org/10.1364/OE.25.016725

    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Precision Measurement of Z -Slide Vertical Error Motion of an Ultra-Precision Lathe by Using Three-probe Method2017

    • 著者名/発表者名
      Zengyuan Niu, Yuan-Liu Chen, Daiki Matsuura, Jung Chul Lee, Ryo Kobayashi, Yuki Shimizu, So Ito, Wei Gao, Jeong Seok Oh and Chun Hong Park
    • 雑誌名

      International Journal of Precision Engineering and Manufacturing

      巻: 18 ページ: 651-660

    • DOI

      https://doi.org/10.1007/s12541-017-0078-4

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Nanomanufacturing;Perspective and applications2017

    • 著者名/発表者名
      F.Z. Fang, X.D. Zhang, W. Gao, Y.B. Guo, G. Byrne, H.N. Hansen
    • 雑誌名

      CIRP Annals-Manufacturing Technology

      巻: 66 ページ: 683-705

    • DOI

      https://doi.org/10.1016/j.cirp.2017.05.004

    • 査読あり / 国際共著
  • [学会発表] Precision Manufacturing Metrology Based on Scanning Probe Systems2017

    • 著者名/発表者名
      Wei Gao
    • 学会等名
      The 13th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments (ISMTII 2017)
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Measurement Technologies for Precision Manufacturing of Large-area Microoptics2017

    • 著者名/発表者名
      Wei Gao
    • 学会等名
      International Symposium on Green Manufacturing and Applications (ISGMA2017)
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Optical Instruments for Measurement of the next-generation Stage Systems for Dimensional Metrology2017

    • 著者名/発表者名
      Yuki Shimizu, Yuan-Liu Chen, Wei Gao
    • 学会等名
      Optical Society of Korea Summer Meeting 2017
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] In situ, in-line, on-machine and in-process surface metrology of precision parts2017

    • 著者名/発表者名
      Wei Gao
    • 学会等名
      39th International MATADOR Conference on Advanced Manufacturing
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Force-controlled Diamond Cutting on Brittle Materials by Utilizing a Force Sensor Integrated Fast Tool Servo2017

    • 著者名/発表者名
      Bo Wen, Yuan-Liu Chen, Yuki Shimizu and Wei Gao
    • 学会等名
      The 13th China-Japan International Conference on Ultra-Precision Machining Process(CJUMP2017)
    • 国際学会
  • [学会発表] On-machine Measurement of Workpiece Inclination for Double-face Turning2017

    • 著者名/発表者名
      Bo Wen, Yuan-Liu Chen, Shu Wang, Yuki Shimizu, Hiraku Matsukuma, Wei Gao
    • 学会等名
      The 7th International Conference of Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology (ASPEN2017)
    • 国際学会
  • [学会発表] Polarization ray-tracing model for orthogonal two-axis Lloyd’s mirror interference lithography2017

    • 著者名/発表者名
      Xiuguo Chen, Zongwei Ren, Yuan-Liu Chen, Yuki Shimizu and Wei Gao
    • 学会等名
      The 9th International Conference on Leading Edge Manufacturing in 21st Century
    • 国際学会
  • [学会発表] Design and Verification of an XYZ Three-axis Micro Stage2017

    • 著者名/発表者名
      Keisuke Adachi, Takuma Sugawara, Yuki Shimizu, Yuan-Liu Chen, Wei Gao, Eiji Niwa and Yoshihiro Sasaki
    • 学会等名
      The 9th International Conference on Leading Edge Manufacturing in 21st Century
    • 国際学会
  • [学会発表] Evaluation of grating periods by using pulsed laser source2017

    • 著者名/発表者名
      Kentaro Uehara, Yuki Shimizu, Yuan-Liu Chen, Wei Gao
    • 学会等名
      The 9th International Conference on Leading Edge Manufacturing in 21st Century
    • 国際学会
  • [学会発表] Surface form measurement of a small roll workpiece2017

    • 著者名/発表者名
      Toshiki Saito, Yuki Machida, Yuki Shimizu, Yuan-Liu Chen and Wei Gao
    • 学会等名
      The 9th International Conference on Leading Edge Manufacturing in 21st Century
    • 国際学会
  • [学会発表] Ultra-precision Angle Sensor with a Mode-locked Laser Source2017

    • 著者名/発表者名
      Shuhei Madokoro, Yuki Shimizu, Yuan-Liu Chen and Wei Gao
    • 学会等名
      The 9th International Conference on Leading Edge Manufacturing in 21st Century
    • 国際学会
  • [学会発表] Fabrication of a two-dimensional diffraction grating by a two-axis Lloyd's mirror interferometer2017

    • 著者名/発表者名
      Kazuki Mano, Yuki Shimizu, Yuan-Liu Chen and Wei Gao
    • 学会等名
      The 9th International Conference on Leading Edge Manufacturing in 21st Century
    • 国際学会
  • [学会発表] Evaluation of relative vertical error motions of a bench center by using an optical micrometer2017

    • 著者名/発表者名
      Zengyuan Niu, Yuan-Liu Chen, Yuki Shimizu and Wei Gao
    • 学会等名
      The 9th International Conference on Leading Edge Manufacturing in 21st Century
    • 国際学会
  • [学会発表] A confocal microscope with a mode-locked laser source2017

    • 著者名/発表者名
      Yuki Shimizu, Taku Nakamura, Yuan-Liu Chen and Wei Gao
    • 学会等名
      The 9th International Conference on Leading Edge Manufacturing in 21st Century
    • 国際学会
  • [学会発表] Precision measurement of microoptics with double steep sidewalls by an atomic force microscopy with a linear-rotary scanning strategy2017

    • 著者名/発表者名
      Yuan-Liu Chen, Bo Wen, Minglei Li, Yuki Shimizu and Wei Gao
    • 学会等名
      The 13th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments (ISMTII 2017)
  • [学会発表] Uncertainty analysis in the evaluation of pitch deviation and out-of-flatness of planar scale gratings by Fizeau interferometry2017

    • 著者名/発表者名
      Xiuguo Chen, Yuki Shimizu, Yuan-Liu Chen and Wei Gao
    • 学会等名
      The 13th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments (ISMTII 2017)
  • [学会発表] 平面ステージ精密制御用多自由度光センサのクロストーク誤差低減に関する研究2017

    • 著者名/発表者名
      石塚 稜,古田 雅也,清水 裕樹,陳 遠流,陳 修国,松隈 啓,高 偉
    • 学会等名
      2017年度精密工学会東北支部学術講演会
  • [学会発表] 神田 悠利,楊 紹青,陳 遠流,清水 裕樹,松隈 啓,高 偉2017

    • 著者名/発表者名
      光周波数コムの安定性評価に関する研究
    • 学会等名
      2017年度精密工学会東北支部学術講演会
  • [学会発表] XYZ3軸マイクロステージに関する研究2017

    • 著者名/発表者名
      安達 圭祐,菅原 拓馬,清水 裕樹,陳 遠流,高 偉,丹羽 英二,佐々木 祥弘
    • 学会等名
      2017年度精密工学会東北支部学術講演会
  • [学会発表] 回折格子の校正に関する研究2017

    • 著者名/発表者名
      上原 健太郎,陳 遠流,清水 裕樹,陳 修国,松隈 啓,高 偉
    • 学会等名
      2017年度精密工学会東北支部学術講演会
  • [学会発表] 小型円筒ワークの精密表面形状測定に関する研究2017

    • 著者名/発表者名
      齋藤 俊樹,町田 祐貴,清水 裕樹,陳 遠流,松隈 啓,高 偉
    • 学会等名
      2017年度精密工学会東北支部学術講演会
  • [学会発表] 超精密角度センサに関する研究2017

    • 著者名/発表者名
      間所 周平,陳 遠流,清水 裕樹,松隈 啓,高 偉
    • 学会等名
      2017年度精密工学会東北支部学術講演会
  • [学会発表] 2軸ロイドミラー干渉計による回折格子製作に関する研究―コリメート光強度分布の評価―2017

    • 著者名/発表者名
      真野 和樹,相原 涼,李 星輝,清水 裕樹,陳 遠流,陳 修国,松隈 啓,高 偉
    • 学会等名
      2017年度精密工学会東北支部学術講演会
  • [学会発表] エッジ反転法によるダイヤモンド工具刃先丸み半径の精密測定に関する研究2017

    • 著者名/発表者名
      徐 馬禄,陳 遠流,蔡 引※(※は女偏に弟),清水 裕樹,松隈 啓,高 偉
    • 学会等名
      2017年度精密工学会東北支部学術講演会
  • [学会発表] Measurement of Workpiece Inclination by Using FS-FTS on a Diamond Turning Machine2017

    • 著者名/発表者名
      Bo Wen, Yuan-Liu Chen, Shu Wang, Yuki Shimizu, Hiraku Matsukuma, Wei Gao
    • 学会等名
      2017年度精密工学会東北支部学術講演会
  • [図書] 高精度走査プローブ顕微鏡技術2018

    • 著者名/発表者名
      清水 裕樹,松隈 啓,高 偉
    • 総ページ数
      3
    • 出版者
      先端加工機械技術振興協会
  • [備考] 高・清水研究室/精密ナノシステム研究センター

    • URL

      http://web.tohoku.ac.jp/nanometrology/

URL: 

公開日: 2018-12-17  

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