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2015 年度 実施状況報告書

製造過程でのトロイ回路混入を検知するLSI設計技術に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 15K00086
研究機関京都産業大学

研究代表者

吉村 正義  京都産業大学, コンピュータ理工学部, 准教授 (90452820)

研究期間 (年度) 2015-04-01 – 2018-03-31
キーワードハードウェアトロイ回路 / トロイ検出用回路 / LSI / 挿入箇所探索アルゴリズム / ベンチマーク回路
研究実績の概要

本年度は製造後のLSI中にハードウェアトロイ回路が含まれているかを網羅的に検出するために用いるLSIに搭載するトロイ検出回路の構成とそのトロイ検出回路をLSI中のどこに挿入すれば良いかについて検討を行った.
まず,ハードウェアトロイ回路を検出するための,トロイ検出用回路の構成を幾つか発案した.その回路構成ごとに特性を比較した.その結果,最も特性の良い回路構成を決定した.その構成は論理ゲート1つであり,挿入する信号線の入力側のゲートに応じて,論理ゲートの特性が変化するものであった.
次に,そのトロイ検出用回路の挿入箇所の決定方法の検討を行った.この決定方法は十分吟味できておらず,本年度は単純な貪欲法に基づいた手法のみを考案した.
最後に検討したトロイ検出用回路の構成とそのトロイ検出用回路の挿入箇所決定方法を複数のベンチマーク回路に適用し,トロイ検出用回路の構成とそのトロイ検出用回路の挿入箇所の特性を評価した.今回はプログラムの実装が間に合わなかったため,手動でベンチマーク回路に適用した.その結果,LSIの面積オーバーヘッドが100%ととても高いことがわかった.
次年度以降は,トロイ検出用回路の挿入箇所の決定方法を再検討する必要がある.何故ならば,面積オーバーヘッドを削減するためである.また挿入箇所決定手法をプログラムで実装することも必要である.これらを通じて,より多くの回路に対して,面積オーバーヘッドが少ないトロイ回路検出箇所挿入探索方法の検討と評価を行う.

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

3: やや遅れている

理由

予定していたトロイ回路の考案は完了した.しかしトロイ回路挿入箇所探索アルゴリズムは完成できていない.この遅れを取り戻す必要がある.

今後の研究の推進方策

トロイ検出用回路の挿入箇所探索アルゴリズムを早急に検討し評価を行う.

次年度使用額が生じた理由

研究が予定より遅れたため,発表予定の旅費及び物品の購入が遅れた.

次年度使用額の使用計画

学会発表のための旅費及び,物品費としてFPGAボード購入に充当する.

  • 研究成果

    (6件)

すべて 2016 2015

すべて 学会発表 (6件) (うち国際学会 2件)

  • [学会発表] トロイ回路を検知する回路の考察2016

    • 著者名/発表者名
      大山浩平, 吉村正義
    • 学会等名
      第8回LSIテストセミナー
    • 発表場所
      電気ビル共創館(福岡県福岡市)
    • 年月日
      2016-03-02
  • [学会発表] 静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム2015

    • 著者名/発表者名
      原侑也, 山崎紘史, 細川利典, 吉村正義
    • 学会等名
      デザインガイア2015
    • 発表場所
      長崎県勤労福祉会館(長崎県長崎市)
    • 年月日
      2015-12-03
  • [学会発表] A Sequence Generation Method to detect Hardware Trojan Circuits2015

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi Yoshimura, Tomohiro Bouyashiki and Toshinori Hosokawa
    • 学会等名
      16th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2015
    • 発表場所
      Indian Institute of Technology Bombay, Bombay, India
    • 年月日
      2015-11-25
    • 国際学会
  • [学会発表] A Don’t Care Filling Method to Reduce Capture Power based on Correlation of FF Transitions2015

    • 著者名/発表者名
      Masayoshi Yoshimura, Yoshiyasu Takahashi, Hiroshi Yamazaki and Toshinori Hosokawa
    • 学会等名
      24th IEEE Asian Test Symposium 2015
    • 発表場所
      Indian Institute of Technology Bombay, Bombay, India
    • 年月日
      2015-11-23
    • 国際学会
  • [学会発表] VLSI設計工程時における未遷移信号線情報に基づいたトロイ回路検出法2015

    • 著者名/発表者名
      坊屋鋪知拓,細川利典,吉村正義
    • 学会等名
      DAシンポジウム2015
    • 発表場所
      山代温泉 ゆのくに天祥(石川県加賀市)
    • 年月日
      2015-08-28
  • [学会発表] BASTにおけるスキャンスライスに基づくテストデータ削減法2015

    • 著者名/発表者名
      錦織誠, 山崎紘史, 細川利典, 新井雅之, 吉村正義
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館, 東京都
    • 年月日
      2015-06-16

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公開日: 2017-01-06  

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