走査型非線形誘電率ポテンショメトリ(SNDP)と呼ばれる新規なプローブ顕微鏡技術を開発した.SNDPは走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)をベースとする顕微鏡技術であり,ナノスケールから原子スケールの高い空間分解能で,材料やデバイスの表面や界面に生じる自発分極に関わる定量的測定を可能とする.本研究課題では,SNDPの装置開発,測定に関わる理論の実験的検証などSNDPの基礎付けを行うとともに,発展的手法の開発を進めた.また,SNDPの応用領域を探索し,SNDPがグラフェンなどの原子層材料やそれらを用いたデバイスのナノスケール物性評価に応用可能であることを明らかにした.
|