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本研究は、レーザーアブレーション等の短パルスレーザーと物質の相互作用の理解に資するレーザー駆動プラズマＸ線レーザー（XRL）による時間分解偏光計測技術を確立することを目的とする。本課題の達成には、ショット毎に大きく変動するXRLのビーム強度を正確に計測し、偏光状態を高精度に観測することが要求される。本研究では、時間分解偏光計測技術の基盤技術である以下の研究開発を実施した。（1）波長13.9 nmのXRLに対応する2種類のビーム強度モニタ（Mo/Si多層膜コートフォトダイオード検出器、Moコート回折格子）、（2）絶対反射率計測に基づく多層膜偏光素子を用いた軟Ｘ線偏光解析法。
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