研究課題
基盤研究(C)
物体による光散乱は構造や物質によりその強度分布や偏光状態が異なる．散乱光中の偏光情報は、試料の屈折率、表面粗さ、プローブ光の波長により異なる。「偏光指紋は」、3次元空間に広がる散乱光の偏光特性を2次元パターンに表すものである。本研究では、「偏光指紋」で見出してきた多様な変化の因果関係を解明するために、計測装置の改良から、基礎計測、基礎データの解析を行い、散乱面における一定の所見を見出した。
光計測
