| 研究課題/領域番号 |
15K05228
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| 研究機関 | 富山大学 |
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研究代表者 |
彦坂 泰正 富山大学, 大学院医学薬学研究部(薬学), 教授 (00373192)
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
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| キーワード | 自由電子レーザー / オージェ崩壊 |
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| 研究実績の概要 |
原子の内殻空孔からの多段階のオージェ崩壊過程の実時間追跡の要素技術の確立を目指し、X線自由電子レーザー吸収によるNe1s内殻イオン化後のオージェ過程で放出されるオージェ電子の光学レーザー吸収によるサイドバンド生成についてのデータ解析を行った。X線エネルギー4.70 keVで観測したNeのオージェ電子スペクトルは、近赤外レーザーの入射により2p^-2オージェバンドの強度は減少し、高エネルギー側にサイドバンドが観測される。サイドバンドの分布幅は近赤外レーザーパルスの強度に応じて増加し，強度8.3 mJ/pulse（レーザー場強度150 TW/cm^2）では、サイドバンドが15 eVにわたって観測された。これは近赤外光子(hv = 1.55 eV)の約10個分に相当する。このサイドバンドの強度を遅延時間の関数として測定することで2つのレーザーパルスの相互相関関数が得られる。得られた相互相関関数はガウス型の形状を示し、このピークからX線自由電子レーザーと近赤外レーザーパルス間の時間遅延原点が決定できる。また最小自乗法による解析から相関関数の半値全幅（FWHM）として 2.0 (2) ps が得られた。すなわち、近赤外レーザーパルスによって生成したオージェ電子のサイドバンドを利用することで、X線自由電子レーザーと外部同期レーザーの時間原点とタイミングジッターを非破壊で決定できることを実証できた。これにより、２つのレーザーを併用した実時間計測において必須となる実験技術を確立することができたと言える。なお、観測されたジッター幅は、GaAs吸収を用いた先行研究の結果よりも数倍大きな値となっており、その要因については現在検討中である。
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| 現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
2: おおむね順調に進展している
理由
原子の内殻空孔からの多段階のオージェ崩壊過程の実時間追跡に必要となる、２つのレーザーを併用した実時間計測において必須となる実験技術について概ね確立することができた。
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| 今後の研究の推進方策 |
次の段階として、シングルショットでのサイドバンド計測によって、X線自由電子レーザーパルス毎の計測を実現する。その後、この技術を適用することにより、原子の内殻空孔からの多段階のオージェ崩壊過程の実時間追跡を目指す。
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| 次年度使用額が生じた理由 |
実支出額は概ね計画通りであるが、物品費または旅費として見積もった当初予算の誤差として5,186円の残額が生じた。
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| 次年度使用額の使用計画 |
物品費または旅費として活用する。
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