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クラックを含む高温超伝導(HTS)膜の遮蔽電流解析に現れる線形方程式を解くための高性能法を提案した．離散化により，遮蔽電流解析は線形方程式に帰着する．しかし，クラックの存在は線形方程式ソルバーの収束特性に多大な影響を及ぼす．収束特性を改善する目的で著者は変数低減法を提案した．同法を実装すると，収束特性はクラックの影響をほぼ受けない．
他方，外部磁場中を運動するペレット容器の一部であるHTS膜中の遮蔽電流密度を解析するための数値コードを開発した．同コード中では，ペレット容器のNewton方程式が遮蔽電流密度方程式と連立して解かれる．同コードを用いて，超伝導リニア加速方式の性能が数値的に調べられた．
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