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電子機器の開発期間の短縮やコスト削減のために、メーカの開発段階で、電子機器の静電気放電（ESD）による故障や誤動作への対策設計を支援するシミュレーション技術が求められている。
そのため本研究では、機器に実装された状態でのESD保護素子の現実的な保護特性のモデリングを実現するため、ESD保護素子の応答特性をベクトルネットワークアナライザ（VNA）で測定し高周波回路シミュレータ上に反映して、ESD印加時の電気的ストレスをシステムレベルでシミュレーションする手法を開発した。
さらに、モデリング精度を高めることで、同等の仕様を持つ異種のESD保護素子の特性の差異が表現できた。
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