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本研究では「ムダを省き“頑張って”動く、“それなりに”動く」LSIを実現することを目的に、ロバストな超低電圧回路による超低エネルギーLSI、ならびに、ソフトエラー耐性をもったLSIを設計した。前者においては、インバータ回路を使用してリーク電力を低減するバルク型の回路ならびにFinFET型の回路を提案し、約15～30％のリーク電力を削減できることを示した。後者においては、低電力な耐ソフトエラーラッチであるNew-SEHラッチ、Fast-SEHラッチ、ならびに、SHC ラッチの提案を行い、電力削減、遅延削減を達成した。
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