研究課題
基盤研究(C)
塗膜の乾燥や硬化過程の解析を高度化するために，DH顕微鏡や塗膜透過光の偏光状態の解析，更に塗膜の変形や形状計測を行う実験系を構築し，それぞれにおいて研究を進めた．形状計測では，二波長を用いた塗膜の形状計測を行ったが，十分な透過光強度が得られず正確な塗膜形状の検出ができなった．しかし，透過光の偏光状態を記録する方法においては，その偏光状態を記録，解析することができた．また，DH顕微鏡においては，微小インクドットの乾燥過程の解析が実現でき，その変形が5万秒以上継続することが明らかになった．
光計測，計測工学
