研究課題/領域番号 |
15K11105
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研究機関 | 東京医科歯科大学 |
研究代表者 |
二階堂 徹 東京医科歯科大学, 大学院医歯学総合研究科, 講師 (00251538)
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研究分担者 |
井上 剛 東京医科歯科大学, 大学院医歯学総合研究科, 助教 (40431928)
高垣 智博 東京医科歯科大学, 大学院医歯学総合研究科, 助教 (60516300)
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研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
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キーワード | エナメル質 / ABRZ / 接着試験 / セルフエッチングシステム |
研究実績の概要 |
本研究課題の目的は、各種セルフエッチング接着システムとエナメル質との接着界面に形成される酸‐塩基抵抗層(Acid-base resistant zone、ABRZと略記)のパターンとその機械的性質、接着耐久性との関連性について明らかにすることである。今年度は、エナメル質に対してワンステップ接着システムを中心に接着材料を作用させた場合のレジンーエナメル質接着界面に形成されるABRZの形態を詳細に観察し、その違いについて明らかにした。2ステップシステムにおいては良好なABRZの形成が確認されるのに対して、ワンステップシステムにおいてはABRZの形成が確認されるが、ABRZ形成直下に耐酸性の低い欠損部の形成が認められた。しかしリン酸処理したエナメル質に対しては良好なABRZの形成が認められた。また、臨床での様々な使用条件が及ぼす影響についても検討するため、オフィスブリーチング後のエナメル質に対する影響についても検討している。ブリーチング直後では接着が低下することが一般に知られているが、ABRZの形態への影響については全く異なる傾向を示すことがわかった。さらに矯正用ブラケットのエナメル質への接着に使用するボンディングシステムを作用させた場合のエナメル質に対する接着性能とABRZの形成についても評価した。一方、これまでの研究では直接コンポジットレジンに使用するボンディングシステムが中心であったが、間接修復に使用する接着性レジンセメントに着目し、そのエナメル質との境界にABRZが生成することを確認している。
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