| 研究課題/領域番号 |
15K11269
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| 研究機関 | 昭和大学 |
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研究代表者 |
代田 達夫 昭和大学, 歯学部, 教授 (60235760)
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| 研究分担者 |
韓 仁陽 (清本聖文) 昭和大学, 歯学部, 兼任講師 (00712556)
近藤 誠二 昭和大学, 歯学部, 兼任講師 (10432634)
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2019-03-31
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| キーワード | 下顎枝矢状分割術 / マイクログリア / アストロサイト / 三叉神経 / 脊髄路核尾側亜核 / 機械的痛覚過敏 / 神経因性疼痛 |
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| 研究実績の概要 |
下顎枝矢状分割術は骨格性下顎前突症に対して広く用いられている術式である。本手術は顎矯正手術の中でも基本となる術式の一つであるが，オトガイ部の知覚異常は本手術で高頻度に生じる合併症の一つであり，しかもこのような知覚異常は難治性で慢性化に推移する傾向があるが，その発症のメカニズムは明らかではない。そこで，下歯槽神経損傷後に生じるオトガイ部の知覚障害への中枢神経系の関与について，下歯槽神経損傷モデルを用いて検討した。
model群およびsham群、各9匹のラットを用い，ラットの下歯槽神経を縫合糸で結紮することで下歯槽神経に損傷を加え，術後の経日的な行動学的変化を42日間観察した。また，また，40匹のラットを用い，術後5日目（model群 =5， sham群=6），21日目（model群=5, sham群=5），そして両群の値に差を認めなかった術後42日目（model群=10，sham群= 9）から中枢神経系を摘出し三叉神経脊髄路核尾側亜核(Vc)におけるマイクログリア，アストログリアの活性化を解析するとともに，c-fos抗体陽性細胞の発現量を定量的に評価してニューロンの興奮状態を解析した。
model群の逃避閾値は，術後5日目ではsham群と比較して最も有意に低下し，その後経時的な回復傾向を認めた。また，model群のVc領域では術後5日目でマイクログリアおよびアストログリアの活性化が認められ，c-fos抗体陽性細胞の発現量も有意に高い値を示した。しかし，42日目ではmodel群とsham群の逃避閾値には有意差はなく，また，マイクログリア，アストロサイト，c-fos抗体陽性細胞の発現量ついても有意差を認めなかった。
下歯槽神経損傷に伴うオトガイ部の痛覚過敏の慢性化には中枢神経系におけるマイクログリア-アストログリア－ニューロン間の相互作用が関与が示された。
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