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2017 年度 実績報告書

集積回路の製造テスト結果を利用した信頼性予測

研究課題

研究課題/領域番号 15K12004
研究機関九州工業大学

研究代表者

梶原 誠司  九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (80252592)

研究分担者 大竹 哲史  大分大学, 理工学部, 准教授 (20314528)
研究期間 (年度) 2015-04-01 – 2018-03-31
キーワードアダプティブテスト / データマイニング / テストコスト削減 / LSIテスト
研究実績の概要

本研究では,ビッグデータの解析に用いるデータマイニングの手法によりVLSIの製造テストで得られる測定データを統計的に解析し,テスト工程の省略によるテストコスト削減と出荷前の信頼性選別を可能にすることを試みた.まず,製造テスト途中段階で,既に実施済みのテスト(ウェーハテスト)の測定データから未実施のテスト(バーインテストや最終テスト)に対する結果を予測する手法を開発した.コストが掛かるバーインテストの省略を可能にする結果予測により,テストコスト削減が可能になる.さらに,製造テスト結果から出荷後の劣化の進行度合いの予測可能性を検討した.最終年度は,前年度開発した結果予測のモデル作成手法を改善し,AUCやコスト削減率等の値を向上に成功した.提案手法は,まずいくつかのテスト項目のテスト結果を予測する判別モデルをK-分割交差検証に基づいてサポートベクタマシン(SVM)により作成し,それらを統合してファイナルテストの結果を予測する判別モデルを作成する.車載用LSIのような不良見逃しが許されない(0-defect)の要求条件で実際の製造テストデータに対して提案手法を適用した結果,単純にSVMを適用して予測する場合と比較して,提案手法はAUCやコスト削減率等の値を向上することができた.この結果を纏めた論文を査読付き国際会議(IEEE ITC-Asia)に投稿し,採録されている.また,判別対象データを判別モデルに適用した際の良品である確率の分布特徴をいくつか抽出し,特定の閾値で不良品を発見しつつテストコストを削減することが可能な判別モデルをSVM によって学習選択する手法も提案した.実テストデータを用いた実験では,判別対象データのすべてのフェールダイを発見しつつテストコストを大幅に削減できることを示した.

  • 研究成果

    (11件)

すべて 2018 2017

すべて 雑誌論文 (6件) (うち国際共著 2件、 査読あり 6件) 学会発表 (5件)

  • [雑誌論文] Good die prediction modelling from limited test items2018

    • 著者名/発表者名
      Takeru Nishimi, Yasuo Sato, Seiji kajihara, Yoshiyuki Nakamura
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Int’l Test Conference in Asia

      巻: 2 ページ: 1-6

    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Flexible Scan-in Power Control Method in Logic BIST and Its Evaluation with TEG Chips2017

    • 著者名/発表者名
      Kato Takaaki、Wang Senling、Sato Yasuo、Kajihara Seiji、Wen Xiaoqing
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Emerging Topics in Computing

      巻: 6 ページ: 1~1

    • DOI

      10.1109/TETC.2017.2767070

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption2017

    • 著者名/発表者名
      Yucong Zhang, Stefan Holst, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Jun Qian
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      巻: 26 ページ: 140-145

    • DOI

      10.1109/ATS.2017.37

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors2017

    • 著者名/発表者名
      Stefan Holst, Hiroshi Kawagoe, Eric Schneider, Michael A. Kochte, Kohei Miyase, Hans-Joachim Wunderlich, Seiji Kajihara, Xiaoqing Wen
    • 雑誌名

      Proc. IEEE International Test Conference

      巻: 48 ページ: 1-8

    • DOI

      10.1109/TEST.2017.8242055

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor2017

    • 著者名/発表者名
      Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      Proc. IEEE Int’l Test Conference in Asia

      巻: 1 ページ: 1-6

    • DOI

      10.1109/ITC-ASIA.2017.8097126

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design2017

    • 著者名/発表者名
      Kohei Miyase, Yudai Kawano, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara
    • 雑誌名

      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing

      巻: 17 ページ: 1-4

    • 査読あり
  • [学会発表] 特定のテスト項目を用いた良品予測モデル作成2018

    • 著者名/発表者名
      西見 武,梶原 誠司,中村 芳行
    • 学会等名
      第78回FTC研究会
  • [学会発表] デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法2018

    • 著者名/発表者名
      井上賢二,三宅庸資,梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
  • [学会発表] FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討2017

    • 著者名/発表者名
      三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
  • [学会発表] スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について2017

    • 著者名/発表者名
      大島繁之,加藤隆明,王 森レイ,佐藤康夫,梶原誠司
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
  • [学会発表] 機械学習を用いたフェールチップ判別における適用識別器と判別確度の決定法2017

    • 著者名/発表者名
      柚留木 大地, 大竹 哲史, 中村 芳行
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会

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公開日: 2018-12-17  

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