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透過型電子顕微鏡 (TEM) 像に強度輸送方程式を適用することで、異相界面の静電ポテンシャル分布の可視化、および、それに基づいたイオン拡散の様子を明らかにする目的で研究を推進した。静電ポテンシャル分布を得るため、アンダーフォーカス、インフォーカス、オーバーフォーカスの3枚のTEM像から、a-Ge膜/真空界面における静電ポテンシャル分を得ることに成功した。これを実現するため、ホワイトノイズの低周波数成分が強調されるという課題の解決、および、2相界面のTEM像という周期的境界条件が満たされていない像に強度輸送方程式を適用するための課題を解決することを行った。
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