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時分割軟X線スペクトロスコピーと2次元空間イメージングを両立させた，「時分割イメージングスペクトロスコピー法」の開発を行った。波長分散した(位置によって波長の異なる)軟X線を試料に照射し，光電子顕微鏡を用いて試料上のそれぞれの位置から放出される電子の2次元強度分布を測定することによって，分光器を掃引することなく，軟X線吸収スペクトルの2次元空間分布を一度に得ることができる。この手法を，大気中であらかじめレーザーを照射したPt/Co/Pt薄膜に適用したところ，レーザースポットの内外で異なる吸収スペクトルが得られ，開発した手法の妥当性が確認できた。
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