2016 年度研究成果報告書

全反射XAFS法による液／液界面でのイオン分布・分子配向の解明

研究課題

研究課題/領域番号	15K13727
研究種目	挑戦的萌芽研究
配分区分	基金
研究分野	分析化学
研究機関	九州大学
研究代表者	瀧上隆智九州大学, 基幹教育院, 教授 (40271100)
研究協力者	谷田肇日産アーク, 研究員 (70301760)
研究期間 (年度)	2015-04-01 – 2017-03-31
キーワード	全反射XAFS / 液／液界面 / イオン水和 / 界面濃度
研究成果の概要	液／液界面近傍におけるイオンの水和構造を明らかにするため、蛍光X線の検出に基づいた全反射XAFSの測定手法を構築した。新たに設計した溶液試料セルを用い、アルカン／水界面における陽イオン界面活性剤（DTAB）の吸着膜に対して全反射XAFS測定を行った。臭化物イオンのK吸収端ジャンプ値の解析より、界面活性剤吸着量の定量が可能となった。イオンの水和構造を決定するためのEXAFS領域の振動構造解析にはさらなるS／N比の向上が必要であることも判明した。
自由記述の分野	界面物理化学