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チャージポンピング（CP）とEDMR（Electrically detected magnetic resonance）を組み合わせたCP-EDMR法を立ち上げ、その高感度化を行った。これにより、シリコンMOSトランジスタのCP-EDMRの観測に世界で初めて成功した。検出スピン数の下限値は1000スピン程度であり、CPを高周波で行うことにより単一スピンの検出が可能であるとの見通しが得られた。また、CP-EDMR法で用いるゲート電圧パルスを変調することにより、エネルギー分光が可能であることを実証した。
これらの結果は、同手法によりスピン相関を観測することができることを示すものである。
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