|
本研究では、ピコ秒オーダの極短時間パルス近赤外光の物質内部での時間変化を解析
することにより、果実の吸収係数および等価散乱係数を厳密に求め（TOF-NIRS）、さ
らに果実に照射されたハロゲン光の拡散反射光強度を2本のファイバで検出し（TFDRS）、両者のパラメータから物質内部での光吸収量（化学成分値）を統計解析に頼らずに求めることに成功した。さらに計測した光学定数からモンテカルロシミュレーションを用いて、りんご内部での光挙動のシミュレーションを行った。これにより①蜜部位の面積比率と透過光強度に相関があること、②りんごの散乱係数が大きいことから、透過画像から蜜部位の特定が難しいことが判明した。
|
