経年劣化の緩和と監視に基づく高信頼プロセッサの研究

2017 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 15K15960
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 基金
• 研究分野: 計算機システム
• 研究機関: 奈良先端科学技術大学院大学 (2017); 京都大学 (2015-2016)
• 研究代表者: 新谷 道広 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (80748913)
• 研究期間 (年度): 2015-04-01 – 2018-03-31
• キーワード: トランジスタ / MOSFET / プロセッサ設計 / 経年劣化 / NBTI / タイミング解析 / 回路シミュレーション

研究成果の概要

半導体製造技術の進歩に伴い，集積回路は我々の生活に欠かせないものになっている一方で，集積回路の構成部品であるMOSトランジスタは経時的に特性が劣化することが知られている．数ある劣化現象の中でも，本研究はバイアス温度安定性（NBTI: Negative bias temperature instability）を対象としており，NBTI劣化のモデル化手法，NBTI依存のパス遅延劣化推定手法および劣化緩和手法の提案を通して，高い安全レベルを確保可能な高信頼プロセッサを実現した．

自由記述の分野

計算機システム