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2017 年度 研究成果報告書

経年劣化の緩和と監視に基づく高信頼プロセッサの研究

研究課題

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研究課題/領域番号 15K15960
研究種目

若手研究(B)

配分区分基金
研究分野 計算機システム
研究機関奈良先端科学技術大学院大学 (2017)
京都大学 (2015-2016)

研究代表者

新谷 道広  奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (80748913)

研究期間 (年度) 2015-04-01 – 2018-03-31
キーワードトランジスタ / MOSFET / プロセッサ設計 / 経年劣化 / NBTI / タイミング解析 / 回路シミュレーション
研究成果の概要

半導体製造技術の進歩に伴い,集積回路は我々の生活に欠かせないものになっている一方で,集積回路の構成部品であるMOSトランジスタは経時的に特性が劣化することが知られている.数ある劣化現象の中でも,本研究はバイアス温度安定性(NBTI: Negative bias temperature instability)を対象としており,NBTI劣化のモデル化手法,NBTI依存のパス遅延劣化推定手法および劣化緩和手法の提案を通して,高い安全レベルを確保可能な高信頼プロセッサを実現した.

自由記述の分野

計算機システム

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公開日: 2019-03-29  

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