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本研究では、GISAXS法にCT法を組み合わせることで、面内方向におけるナノ界面構造を可視化することに成功した。GISAXS-CTシステムの構築のため、高精度並進(X)・回転(φ)機構を有した真空チャンバーの製作を行った。また、測定後の得られるデータは非常に膨大であるため、それらを解析するためのソフトウェアを開発した。実証実験として、パターンした金蒸着した試料上に、機能性高分子ブロック薄膜を2つの円上に塗布した試料を作製した。入射角を制御することで斜入射小角X線散乱を測定し、像を再構成したところ、金及び高分子材料を別々に再構成することに成功した。
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