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室温でゴム状態にあるポリイソプレンを用いて，架橋した高分子系における固体界面の凝集状態を，良溶媒に浸漬させた際の膨潤度の差異から検討した．石英基板上に作製したポリイソプレン架橋薄膜を、良溶媒である重水素化ヘキサンに浸漬させた際の膨潤度の膜厚方向の分布を中性子反射率法(SOFIA, J-PARC)に基づき解析し，固体界面近傍においてはほとんど膨潤しない層、および試料内部よりも膨潤しにくい層がそれぞれ存在することを見出した．これらは，石英基板との界面において基板と強く相互作用し，運動性が著しく低下した吸着層と，基板と弱く相互作用し運動性がやや低下した中間層であると解釈できる．
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