研究課題
若手研究(B)
本研究は、半導体配線のようなマイクロ・ナノスケール構造体の界面破壊現象について、その局所強度を支配する主因子の抽出し、配線構造に内在する界面強度の統計的な分布挙動を明らかにすることを狙った。配線金属単結晶材料ならびに単結晶からなる界面構造体の試験評価によって、界面強度がその結晶方位に強く依存することを明らかにし、多結晶金属配線構造における強度変動を予測可能にする知見を得た。
材料力学、材料強度学