ケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)を用いた、太陽電池計測のためのその場電位計測技術を構築し、ペロブスカイト太陽電池の評価へ応用した。構築したシステムを用いて、光照射に伴うポテンシャル分布の変化を明瞭に観察し、かつ、定量的に測定することに成功した。また、光照射によって生じる変化分のみを抽出することでp-n接合の空間認識が可能であることを実証した。この手法を用いた評価から、p-n接合の位置(電荷分離が生じる場所)はペロブスカイト太陽電池の構造や材料組成によって変化することが分かった。今後はより多くのデバイスを評価することで、その要因を解明することがデバイス設計指針を得るために重要となる。
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