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歯科医療においては人工材料による歯牙の形態・機能回復が必須であり、そこにはかならず生体と歯科材料の界面が存在する。強固で耐久性のある結合を得るためやその理解には界面の情報が極めて重要である。しかし、従来の手法では破壊が伴いかつ原子・分子レベルでの分析に至っていない。本研究では、非破壊で物質の元素分布が分かる放射光蛍光X線分析及び特定原子の電子状態、周辺原子の種類、配位数、結合距離が分かるX線吸収微細構造法を用いて二次元・三次元分析の手法を開発し、生体材料への応用を試み、既存の構造が分かるデバイスでの実験により、デバイスの失活原因が分かり、応用可能な生体材料の評価を行った。
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