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2007 年度 実績報告書

代教的および確率的手法による離散構造の限界の究明

研究課題

研究課題/領域番号 16092205
研究機関東京工業大学

研究代表者

伊東 利哉  東京工業大学, 学術国際情報センター, 教授 (20184674)

研究分担者 上野 修一  東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 教授 (30151814)
キーワード最小値独立置換族 / 代数的手法 / 確率的手法 / 最適選好マッチング / 商品価格設定問題 / VLSI計算 / 可逆計算 / 耐故障計算
研究概要

本研究では、代数的手法および確率的手法を用いて、置換族の構成、電子商取引、 VLSI計算、可逆計算、および耐故障計算などに関する離散構造の限界を解明した、置換族の構成に関しては、電子文書間の高速な類似性ツールとして応用が知られているκ限定ε近似的最小値独立置換族Fに対して、一般分布上で定義される置換族Fを行列Uにより定式化し、その行列Uの階数を評価することにより置換族Fのサイズの良好な下界を導出した。電子商取引に関しては、最適選好マッチング問題において、顧客集合が複数の重み付きグループに分割されているとき、顧客数n商品数mの比に関して、乱択化最適選好マッチングが存在するためのほほ合致する上界と下界を導出した(これは、既に知られている顧客集合が1つグループである場合の乱択化最適選好マッチングが存在するための顧客数nと商品数mの比に関する上界・下界の拡張である)。まだ、商品価格設定問題に関しては、正価格モデルおよび無損失割引モデルにおいて見積価格が制限された場合に対して、確率的手法を用いることで,グラフ価格設定問題・線状高速道路問題・環状高速道路問題の良好な近似アルゴリズムを提案した。VLSI計算に関しては、3次元チャネル配線問題がNP困難であることを明らかにした。可逆計算に関しては、可逆回路の縮退故障に対する最小完全テスト集合生成問題がNP困難であることを示した。耐故障計算に関しては、様々なネ ットワークに対して効率的な確率的耐故障ネットワークを構成する統一的な手法を提案した。

  • 研究成果

    (9件)

すべて 2008 2007

すべて 雑誌論文 (4件) (うち査読あり 4件) 学会発表 (4件) 図書 (1件)

  • [雑誌論文] Improved Approximation Algorithms for Item Pricing with Bounded Degree and Valuation2008

    • 著者名/発表者名
      R. Hamane and T, Itoh
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems E91-D(2)

      ページ: 187-199

    • 査読あり
  • [雑誌論文] On (ε,κ)-Min-Wise Independent Permutations2007

    • 著者名/発表者名
      N. Alon, T.I toh, and T. Nagatani
    • 雑誌名

      Random Structures and Algorithms Vol.31(3)

      ページ: 384-389

    • 査読あり
  • [雑誌論文] On the Complexity of Three-Dimensional Channel Routing2007

    • 著者名/発表者名
      S. Tayu and S. Ueno
    • 雑誌名

      IEEE International Symposium on Circuits and Systems

      ページ: 3399-3402

    • 査読あり
  • [雑誌論文] On the Fault testing for Reversible Circuits2007

    • 著者名/発表者名
      S. Tayu, S. Ito, and S. Ueno
    • 雑誌名

      Lecture Notes in Computer Science 4835

      ページ: 812-821

    • 査読あり
  • [学会発表] On the Permutation Routing in All-optical Caterpillar Networks2007

    • 著者名/発表者名
      A. M. S. Shrestha, S. Tayu, and S. Ueno
    • 学会等名
      IEICE Technical Report
    • 発表場所
      新潟
    • 年月日
      2007-11-29
  • [学会発表] On the Fault Testing for Reversible Circuits2007

    • 著者名/発表者名
      S. Tayu, S. Ito, and S. Ueno
    • 学会等名
      IPSJ SIG Technical Reports
    • 発表場所
      京都
    • 年月日
      2007-07-03
  • [学会発表] Weighted Random Popular Matchings2007

    • 著者名/発表者名
      T. Itoh and O. Watanabe
    • 学会等名
      IEICE Technical Report
    • 発表場所
      札幌
    • 年月日
      2007-06-29
  • [学会発表] Improved Approximation Algorithms for Item Pricing with Bounded Degree and Valuation2007

    • 著者名/発表者名
      R. Hamane and T. Itoh
    • 学会等名
      IEICE Technical Report
    • 発表場所
      京都
    • 年月日
      2007-04-26
  • [図書] 情報基礎数学}2007

    • 著者名/発表者名
      佐藤泰介, 高橋篤司, 伊東利哉, 上野修一
    • 総ページ数
      222
    • 出版者
      昭晃堂

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公開日: 2010-02-04   更新日: 2016-04-21  

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