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2005 年度 研究成果報告書概要

トンネルアシスト・ナノ光反応

研究課題

研究課題/領域番号 16310069
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 ナノ構造科学
研究機関東京大学

研究代表者

長谷川 哲也  東京大学, 大学院理学系研究科, 教授 (10189532)

研究分担者 島田 敏宏  東京大学, 大学院理学系研究科, 助教授 (10262148)
一杉 太郎  東京大学, 大学院理学系研究科, 助手 (90372416)
研究期間 (年度) 2004 – 2005
キーワードSTM / C60 / 重合反応 / トンネル分光
研究概要

MBE法を用いてHOPG(0001)基板上に堆積したフラーレン単結晶薄膜を対象とし、走査型トンネル顕微鏡(STM)の探針によるフラーレン分子の脱離、ならびに重合を試みた。脱離反応に関しては、サンプルバイアス(Vs)=2Vを閾値とし、それ以上のVsで脱離反応が起こることが判明した。また、Vsの増加に伴い脱離分子数は増大した。これは、LUMO+1の波動関数と探針の波動関数との重なりにより結合性軌道を作り、C60が脱離するものと考えられる。Vs=2.5V、It=50pAの条件において繰り返しスキャンしたところ(室温)、C60分子が暗く観測される部分が出現した。これは、トンネル電流により、最表面のC60分子と第2層のC60分子が結合し、分子間距離が短くなったためと理解できる。また、重合した分子には内部構造が観測され、C60分子の回転が停止していることを示してしている。
一方、トンネル分光(STS)は、局所的な電子状態の変化を知るための有力なプローブであるが、室温では温度によるスメアリングの効果のため、微細な構造を検知できない。そこで、低温でもSTSが可能な装置の開発を同時に行なった。その結果、4.2KでのSTS測定に成功し、超伝導物質を用いてナノスケールの空間分解能を確認した。さらに、同装置を重合したC60の観察へと応用した。

  • 研究成果

    (6件)

すべて 2006 2005

すべて 雑誌論文 (6件)

  • [雑誌論文] Electronic Inhomogeneity of Heavily Overdoped <Bi_2-xPb_xSr_2CuO_y> Studied by Low-temperature Scanning Tunneling Microscopy / Spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      H.Mashima, N.Fukuo, Y.Mtsumoto, G.Kinoda, T.Kondo, H.Ikuta, T.Hitosugi, T.Hasegawa
    • 雑誌名

      Phys. Rev. B 73

      ページ: 0605021-0605024

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Correlation between Flux Pinning and Inhomogeneous Electronic Distribution of <Bi_2Sr_2CaCu_2O_8+δDirectly> Probed by Scanning Tunneling Microscopy / Spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      N.Fukuo, H.Mashima, Y.Matsumoto, T.Hitosugi, T.Hasegawa
    • 雑誌名

      Phys. Rev. B

      ページ: 220505/1-220505/4

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Electronic Inhomogeneity of Heavily Overdoped Bi2-xPbxSr2CuOy Studied by Low-temperature Scanning Tunneling Microscopy / Spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      H.Mashima, N.Fukuo, Y.Matsumoto, G.Kinoda, T.Kondo, H.Ikuta, T.Hitosugi, T.Hasegawa
    • 雑誌名

      Phys. Rev. B 73

      ページ: 0605021-0605024

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] Correlation between Flux Pinning and Inhomogeneous Electronic Distribution of Bi2Sr2CaCu2O8+δ Directly Probed by Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      N.Fukuo, H.Mashima, Y.Matsumoto, T.Hitosugi, T.Hasegawa
    • 雑誌名

      Phys. Rev. B 73

      ページ: 220505/1- 220505/4

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] 低温でのプローブ顕微鏡測定2005

    • 著者名/発表者名
      長谷川 哲也, 岡崎 壮平
    • 雑誌名

      熱測定 32

      ページ: 218-225

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] SPM Measurements at Low Temperatures2005

    • 著者名/発表者名
      T.Hasegawa, S.Okazaki
    • 雑誌名

      Netsusokutei 32

      ページ: 218-225

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より

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公開日: 2008-05-27  

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