| 研究概要 |
カバーデータとよばれる主情報に別のデータを埋め込む情報埋め込み技法の中でも,埋め込みデータだけでなくカバーデータもひずみなく再現することを要求する可逆電子透かしの情報理論的基礎を検討している。
本年度は,1次元データを対象として,カバーデータの固定長ブロックの特徴成分の書き換えに基づく無ひずみ情報埋め込みを「一般化LSBデータ埋め込みモデル」として定式化した。そのモデルの上で,埋め込みデータに対して必要となる最小カバーデータ長によって埋め込み法の性能を評価する指針を提案し,その下限を推定した。さらに,推定した下限を漸近的に達成するユニバーサルな埋め込み法を設計し,データの情報源についての知識を利用しない漸近的最良性を示した。昨年までの手法がブロック長に対する漸近的最良性を保証するものであったのに対し,本提案法はデータ長に対する漸近的最良性を保証するものである。また,従来の非可逆埋め込みと本モデルとの対応についても検討し,ステゴ符号と誤り訂正符号との対応に相当する対応関係があることを指摘した。情報埋め込みはカバーデータの書き換えによって実現するため,必然的にカバーデータの劣化を伴う。劣化の許容限度を表すひずみ制約と埋め込み容量との関係についても予備的な考察を開始したが,完全な解明には至っていない。今後は,モデルのパラメータとひずみ制約との関係を明らかにして,モデルの完成度を高める計画である。
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