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テロメレースに依存せずテロメアを維持しているALT細胞においては、DNA上の損傷部位の認識に関与するチェックポイントRadタンパク質群(Rad9-Hus1-Rad1クランプ様複合体、Rad17-RFC)が、ALT細胞で特異的にテロメアと共局在し、細胞核内でフォーカス状のAPB構造体を形成している。このAPBの一部にのみリン酸化Rad17が局在していたことから、DNA損傷応答の誘発は制御を受けている可能性が示された。実際にリン酸化Rad17は細胞周期のS期後期からG2期にかけて高頻度に観察されたことから、DNA複製にともない誘発される機構であると考えられた。
さらにこの誘発される要因を明らかにするため、ALT細胞テロメアDNAの構造的特徴について検討を行った。これまでALT細胞では、高頻度にDNAに単鎖切断が生じていることを見いだしてきている。これはALT細胞のテロメアではnickやgap等の損傷部位が存在すること、またそれらが修復されずに保持されていることを示唆している。この単鎖構造は単鎖特異的なエキソヌクレアーゼに耐性であることから、テロメア末端の一本鎖部分(G-tail)に由来しないこと、すなわちgap状、またはHolliday junctionの様な組換え中間体であることが示唆された。二次元ゲル電気泳動とサザン法による解析から、この構造はALTで観察される染色体外リピートでなく、線状DNA上、つまり染色体上に存在することが明らかとなった。これらはテロメア間の組換えを反映した構造で、ALTのテロメア維持機構を解明する上で重要な意味を持つ可能性がある。
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