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低温X線回折イメージング・トモグラフィー実験では、細胞個々の特性や細胞周期に応じた物質分布の変化を、一方、XFELを用いるX線回折イメージング実験では、大量の細胞試料の投影電子密度を得ることが可能となった。本課題の研究成果は、シンクロトロン放射光とＸ線自由電子レーザーを相補的利用によって、細胞の個性と多様性を見ることにつながり、他のイメージング手法では成しえない非侵襲的イメージングの大きな進展につながることが期待できる。今後、本手法が細胞イメージングの重要な柱の一つとなるだけでなく、非結晶金属ナノ材料試料の構造研究にも裾野を広げていくと期待できる。
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