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2017 年度 実績報告書

軽元素標的型ラボラトリー逆光電子ホログラフィー装置開発と先端機能材料への応用

研究課題

研究課題/領域番号 16H03849
研究機関名古屋工業大学

研究代表者

林 好一  名古屋工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (20283632)

研究分担者 木村 耕治  名古屋工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 助教 (20772875)
廣瀬 靖  東京大学, 大学院理学系研究科(理学部), 准教授 (50399557)
研究期間 (年度) 2016-04-01 – 2019-03-31
キーワード逆光電子ホログラフィー / 局所構造 / 3D原子イメージング / 酸窒化物 / 軽元素
研究実績の概要

SrTiO3 基板上に製膜したSrTaO2N薄膜に逆光電子ホログラフィーを適用した。電子線のエネルギーには 2.5 keV の電子線を用いた。角度あたりの測定時間は 15s であり、検出器の分解能は本測定装置の最小分解能である 5eV/ch の分解能を用いた。また、ガウシアンフィッティングによって得られた窒素と酸素の強度データをピクセル毎にプロットし、窒素と酸素のホログラムパターンを求めた。両者のホログラムパターンは大きく異なり、窒素と酸素の局所構造に大きな違いがあることが判明した。窒素のホログラムパターンはその振幅が大きく、菊池線も明瞭に観測されていた。このため、窒素の原子位置は本来の結晶サイトに存在すると考えられる。一方、酸素のホログラムパターンは振幅が小さく、前方散乱ピークや菊池線はかなり不明瞭であった。このため、窒素とは大きく異なり、酸素位置は結晶サイトから大きくずれていると考えられる。このような実験結果に対して、第一原理計算によって得られたトランス型とシス型の原子配列を用い、ホログラムの計算を行った。得られたホログラムパターンは、シス型よりもトランス型に近いことが分かった。これは、トランス型は窒素が直線的に配列し、原子位置が変化しないのに対し、酸素は窒素の直線軸を中心に面内方向に回転するためである。一方、シス型は、窒素も酸素も基本的にランダムに近い配置を持つために、両元素のホログラムパターンは似たようなものになる。しかしながら、この逆光電子ホログラフィーの結果は、シス型が支配的であるという電子顕微鏡やX線吸収分光の結果とは異なっていた。このため、窒素と酸素のコンフィグレーションについては、今後、より深い検討が必要である。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

実験・データ解析については,予定通り順調に進んでいる.また,関連の論文も掲載された.

今後の研究の推進方策

SrTaO2Nのホログラム測定から窒素と酸素の局所構造に大きな違いがあることが分かったが、シス型を支持する従来の結果とは異なることが分かった。このため、新たなモデルの構築を第一原理計算も用いて進めることとする。一方、エネルギー政策に重要なパワー半導体開発においては、SiC等を用いたダイオードやトランジスタの開発が積極的に進められている。パワー半導体材料の有力候補の一つとしてはGaNが有望視されており、電気物性を制御するためにAlを添加した薄膜の開発の開発も急ピッチで進んでいる。ここでは、AlGaNにおけるAlやGa、Nのホログラムを測定し、その周辺の原子像再生を試みる。これらの原子像を詳細に解析することにより、添加元素であるAlの三次元局所構造を決定する。

  • 研究成果

    (6件)

すべて 2019 2018 その他

すべて 雑誌論文 (2件) (うち国際共著 2件、 査読あり 2件) 学会発表 (2件) (うち招待講演 1件) 図書 (1件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Local Structure Measurement Around Light Elements by Using Inverse Photoelectron Holography2018

    • 著者名/発表者名
      Yamamoto Yuta、Kimura Koji、Ang Artoni K. R.、Matsushita Tomohiro、Hayashi Kouichi
    • 雑誌名

      physica status solidi (b)

      巻: 255 ページ: 1800141~1800141

    • DOI

      10.1002/pssb.201800141

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Direct Imaging of Valence-Sensitive X-Ray Fluorescence Holograms of Fe3O42018

    • 著者名/発表者名
      Ang Artoni Kevin R.、Matsushita Tomohiro、Hashimoto Yusuke、Happo Naohisa、Yamamoto Yuta、Mizuguchi Masaki、Sato-Tomita Ayana、Shibayama Naoya、Sasaki Yuji C.、Kimura Koji、Taguchi Munetaka、Daimon Hiroshi、Hayashi Kouichi
    • 雑誌名

      physica status solidi (b)

      巻: 255 ページ: 1800100~1800100

    • DOI

      10.1002/pssb.201800100

    • 査読あり / 国際共著
  • [学会発表] X線異常散乱法を用いたAg2O-TeO2ガラスの局所構造解析2019

    • 著者名/発表者名
      林 好一、村松廣亮、木村耕治、J. R. Stellhorn、細川伸也、小原真司、山本勝広、加藤健太、早川知克
    • 学会等名
      第32回日本放射光学会年会 福岡国際会議場
  • [学会発表] 蛍光X線ホログラフィーによる電子材料ドーパントの構造評価2018

    • 著者名/発表者名
      林 好一
    • 学会等名
      第37回電子材料シンポジウム
    • 招待講演
  • [図書] 新版 X線反射率法入門2018

    • 著者名/発表者名
      桜井 健次
    • 総ページ数
      384
    • 出版者
      講談社
    • ISBN
      978-4-06-153296-0
  • [備考] 構造物性科学研究室

    • URL

      http://structure.web.nitech.ac.jp/

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公開日: 2019-12-27  

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