モノづくり現場における製品の表面形状の検査装置に用いる技術の研究を行った。光学干渉計を用いた非接触計測により、深さ方向にマイクロメートル分解能でミリメートル領域の距離計測が可能な2次元シングルショット計測器を構築した。簡易に発生できる光コムを光源として、高次までの疑似光コム干渉で得られるシングルショット2次元断層像を体積サンプリング速度の高速なCCDで観測した。一方、その光源としてCCDの撮像時間より早い超高速な光周波数走査繰返し(1MHz)と離散的に周波数走査(200GHz間隔)する高速離散波長可変レーザーを新たに開発して疑似光コム干渉の基礎技術を開発した。
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