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2018 年度 実績報告書

非線形誘電率顕微鏡法を用いた界面電荷輸送現象における諸問題の起源解明

研究課題

研究課題/領域番号 16H06360
研究機関東北大学

研究代表者

長 康雄  東北大学, 電気通信研究所, 教授 (40179966)

研究分担者 山末 耕平  東北大学, 電気通信研究所, 准教授 (70467455)
平永 良臣  東北大学, 電気通信研究所, 助教 (70436161)
研究期間 (年度) 2016-05-31 – 2021-03-31
キーワード走査型非線形誘電率顕微鏡 / 局所DLTS法 / 超高次SNDM法 / 時間分解SNDM法 / Dit分布観測
研究実績の概要

①H29年度に引き続き高度化した超高次非線形誘電率顕微鏡法を種々の計測対象に適用した.具体的にはPotential Induced Degradation (PID)を起こした太陽電池の評価や太陽電池のパッシベーション界面の分析を行い太陽電池の性能劣化の一因に関する知見を得た.具体的にはPIDを起こした太陽電池はキャリ濃度が激減し,その結果空乏層の広がりが観測された.またパッシベーションにより発生する固定電荷密度を定量した.本研究は翌年度も継続する.
② MoS2,WSe2等の新規2次元層状構造化合物のキャリアタイプの原子層数依存性やバイアス依存性を明らかにし,2次元層状構造物質特有の知見を得た.具体的には層が薄くなるほどキャリア濃度が小さくなること,p型のMoS2の場合層数が小さくなるとn型に変化することなどが明らかになった.本研究は次年度も精力的に展開していく予定.
③H28年度開発した局所DLTS法を用いてSiO2/SiC界面の極界面準位密度の2次元分布の計測を継続し,更にH29度開発した時間分解SNDM法(Tr-SNDM)法を用いてより高度な計測を行った.
④界面準位密度の2次元分布計測に加え,その起源を明らかにするためのSNDM ベースの装置の開発を継続している.
⑤H29年度開発したdC/dz-SNDM法を用い種々の材料の線形誘電率の分布計測を行い大きな成果を得た.この成果のより従来dC/dV法であるSNDMの弱点であった線形誘電率分布の高精度で簡易な計測が可能となり,SNDMの誘電体研究及び半導体研究への適用範囲が大きく広がった.

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

年度初頭に計画した研究計画に基づいた成果がほぼ出ていると考えられるから.
具体的には
①Potential Induced Degradation を起こした太陽電池の評価や太陽電池のパッシベーション界面の分析を行い太陽電池の性能劣化の一因に関する知見を得た.
② MoS2,WSe2等の新規2次元層状構造化合物のキャリアタイプの原子層数依存性やバイアス依存性を明らかにし,2次元層状構造物質特有の知見を得た.
③局所DLTS法を用いてSiO2/SiC界面の極界面準位密度の2次元分布の計測を継続し,更にH29度開発した時間分解SNDM法(Tr-SNDM)法を用いてより高度な計測を行った.
④dC/dz-SNDM法を用い種々の材料の線形誘電率の分布計測を行い大きな成果を得た.この成果のより従来dC/dV法であるSNDMの弱点であった線形誘電率分布の高精度で簡易な計測が可能となった。

今後の研究の推進方策

①引き続き高度化した超高次非線形誘電率顕微鏡法を種々の計測対象に適用する.具体的にはPotential Induced Degradation を起こした太陽電池の評価や太陽電池のパッシベーション界面の分析を引き続き行う.② MoS2,WSe2等の新規2次元層状構造化合物半導体のキャリアタイプの原子層数依存性やバイアス依存性を明らかにする研究を引き続き行う.③H30年度に更に高度化した時間分解SNDMをベースにした局所DLTS法を用いて種々の半導体MOS界面の界面順位密度の分布計測を行う.具体的にはこれまで集中的に計測評価してきたSiO2/SiC界面に限らず最も産業的にインパクトがあり基本的なSiO2/Si界面,HfO2/Si界面を始め,新規材料としてはGaN,ダイアモンド等のワイドバンドギャップ半導体のMOS界面の欠陥のミクロな分布状況を明らかにする.④界面準位密度の2次元分布計測に加え,その起源を明らかにするためのSNDM ベースの装置の開発を継続する.⑤これまで開発してきたdC/dz-SNDM法を用い種々の材料の線形誘電率の分布計測を引き続き行う.⑥界面欠陥分布計測結果に基づいたデバイスシミュレーションをさらに発展させ,種々の界面の移動度低下の原因を明らかにする研究を引き続き行う.⑦原子分解能NC-SNDMによる表面界面の原子レベルでの分析を行う.

  • 研究成果

    (40件)

すべて 2018 その他

すべて 国際共同研究 (4件) 雑誌論文 (3件) (うち国際共著 1件、 査読あり 3件) 学会発表 (32件) (うち国際学会 32件、 招待講演 3件) 備考 (1件)

  • [国際共同研究] Paul Scherrer Institute/AETH Zurich(スイス)

    • 国名
      スイス
    • 外国機関名
      Paul Scherrer Institute/AETH Zurich
  • [国際共同研究] University of Melbourne(オーストラリア)

    • 国名
      オーストラリア
    • 外国機関名
      University of Melbourne
  • [国際共同研究] CNR-IMM(イタリア)

    • 国名
      イタリア
    • 外国機関名
      CNR-IMM
  • [国際共同研究] Universite de Lyon,(フランス)

    • 国名
      フランス
    • 外国機関名
      Universite de Lyon,
  • [雑誌論文] Scanning probe-type data storage beyond hard disk drive and flash memory2018

    • 著者名/発表者名
      Cho Yasuo、Hong Seungbum
    • 雑誌名

      MRS Bulletin

      巻: 43 ページ: 365~370

    • DOI

      10.1557/mrs.2018.98

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Local carrier distribution imaging on few-layer MoS2 exfoliated on SiO2 by scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yamasue Kohei、Cho Yasuo
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 112 ページ: 243102~243102

    • DOI

      10.1063/1.5032277

    • 査読あり
  • [雑誌論文] High resolution observation of defects at SiO2/4H-SiC interfaces using time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yamagishi Y.、Cho Y.
    • 雑誌名

      Microelectronics Reliability

      巻: 88-90 ページ: 242~245

    • DOI

      10.1016/j.microrel.2018.07.058

    • 査読あり
  • [学会発表] Nanoscale Linear Permittivity Measurement Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      Third International Symposium on Dielectric Materials and Applications
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Nondestructive Measurements of Double-Layered Piezoelectric Polarity-Inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Odagawa, Yohei Tanaka, Yasuo Cho
    • 学会等名
      Third International Symposium on Dielectric Materials and Applications
    • 国際学会
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy in peak-force tapping mode and its application to transition metal dichalcogenides2018

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISPM2018
    • 国際学会
  • [学会発表] Quantitative measurement of active dopant density distribution in textured emitter of phosphorus-implanted monocrystalline silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      TechConnect World 2018
    • 国際学会
  • [学会発表] HDD Type High Speed Data Readout Demonstrations in Ferroelectric Data Storage Using Pb(Zr,Ti)O3 Recording Medium2018

    • 著者名/発表者名
      R. M. ABEYSINGHE, Y. HIRANAGA and Y. CHO
    • 学会等名
      2018 ISAF-FMA-AMF-AMEC-PFM Joint Conference
    • 国際学会
  • [学会発表] Local Permittivity Measurement Using ∂C/∂z-Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Y. HIRANAGA and Y. CHO
    • 学会等名
      2018 ISAF-FMA-AMF-AMEC-PFM Joint Conference
    • 国際学会
  • [学会発表] Local Evaluation of Al2O3 Passivation Layers for Crystalline Silicon Solar Cells by Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kento Kakikawa, Yuji Yamagishi, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho
    • 学会等名
      World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC7)
    • 国際学会
  • [学会発表] ∂C/∂z-mode SNDM for imaging nanoscale linear permittivity2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi HIRANAGA and Yasuo CHO
    • 学会等名
      The 3rd International Symposium on“Recent Trends in the Elucidation and Function Discovery of Next Generation Functional Materials of Surface / Interface Properties”
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Improved readout speed in ferroelectric probe data storage with large nonlinear permittivity media2018

    • 著者名/発表者名
      Reshan Maduka Abeysinghe, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECAPD-2018
    • 国際学会
  • [学会発表] Measurement Method of Depth Profile in Polarity-Inverted Layered Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Soft Probe tip2018

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Odagawa, Yohei Tanaka, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECAPD-2018
    • 国際学会
  • [学会発表] ∂C/∂z-Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Local Permittivity Imaging2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECAPD-2018
    • 国際学会
  • [学会発表] Imaging of nanoscale linear permittivity by using ∂C/∂z-mode scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho
    • 学会等名
      Electroceramics XVI
    • 国際学会
  • [学会発表] Quantitative Evaluation of Carrier Distribution in Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      IPFA 2018
    • 国際学会
  • [学会発表] Quantitative Imaging of MOS Interface Trap Distribution by Using Local Deep Level Transient Spectroscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone and Yasuo Cho
    • 学会等名
      IPFA 2018
    • 国際学会
  • [学会発表] Development of time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to local deep level transient spectroscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yuji Yamagishi and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICN+T2018
    • 国際学会
  • [学会発表] Scanning nonlinear dielectric microscopy study on nanoscale carrier distribution in two dimensional semiconductors2018

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICN+T2018
    • 国際学会
  • [学会発表] ∂C/∂z-mode scanning nonlinear dielectric microscopy for imaging nanoscale linear permittivity2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICN+T2018
    • 国際学会
  • [学会発表] Nanoscale Linear Permittivity Imaging Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      IUMRS-ICEM 2018
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] DC bias dependent nanoscale carrier distribution on a few-layer WSe2 on SiO2 observed by scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS34
    • 国際学会
  • [学会発表] High-resolution observation of defects at nitride SiO2/4H-SiC interfaces by local deep level transient spectroscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Y. Yamagishi, K. Yamasue and Y. Cho
    • 学会等名
      ECSCRM2018
    • 国際学会
  • [学会発表] High resolution observation of defects at SiO2/4H-SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yuji Yamagishi, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ESREF2018
    • 国際学会
  • [学会発表] Few-layer WSe2 on SiO2 Observed by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Electrostatic Force Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, T. Kato, T. Kaneko and Y. Cho
    • 学会等名
      ACSIN-14 & ICSPM26
    • 国際学会
  • [学会発表] Evaluation of Local Charge State in Al2O3 Passivation Layers of Silicon Solar Cells Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      K. Kakikawa, Y. Yamagishi, K. Tanahashi, H. Takato and Y. Cho
    • 学会等名
      ACSIN-14 & ICSPM26
    • 国際学会
  • [学会発表] Nanoscale Permittivity Imaging Using ∂C/∂z-mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga and Y. Cho
    • 学会等名
      ACSIN-14 & ICSPM26
    • 国際学会
  • [学会発表] Quantitative imaging of carrier distribution in silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2018
    • 国際学会
  • [学会発表] High resolution mapping of subsurface defects at SiO2/SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yuji Yamagishi, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2018
    • 国際学会
  • [学会発表] Novel carrier measurement methodology for floating gate of sub-20 nm node flash memory using scanning nonlinear dielectric microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Jun Hirota, Yuji Yamagishi, Shiro Takeno and Yasuo Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2018
    • 国際学会
  • [学会発表] Electric Field Effects on Few-Layer WSe2/SiO2 Investigated by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2018 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際学会
  • [学会発表] High-Resolution Observation of Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yuji Yamagishi and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2018 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際学会
  • [学会発表] Nanoscale Linear Dielectric Constant Imaging Using ∂C/∂z -Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2018 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際学会
  • [学会発表] Local Evaluation of Non-Uniform Charge Distribution in Al2O3 Passivation Layers for Silicon Solar Cells Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Kento Kakikawa, Yuji Yamagishi, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, and Yasuo Cho
    • 学会等名
      2018 MRS Fall Meeting & Exhibit
    • 国際学会
  • [学会発表] High Resolution Mapping of Subsurface Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2018

    • 著者名/発表者名
      Y. Yamagishi and Y. Cho
    • 学会等名
      SISC 2018
    • 国際学会
  • [備考] 誘電ナノデバイス研究室研究紹介

    • URL

      http://www.d-nanodev.riec.tohoku.ac.jp/

URL: 

公開日: 2021-01-27  

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