| 研究課題/領域番号 |
16K00551
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| 研究機関 | 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 |
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研究代表者 |
赤松 憲 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 関西光科学研究所 量子生命科学研究部, 上席研究員(定常) (70360401)
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2020-03-31
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| キーワード | DNA損傷 / 蛍光異方性 / Alexa488 / 重粒子線 / クラスターDNA損傷 / ホモFRET |
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| 研究実績の概要 |
高LET(線エネルギー付与)放射線の飛跡周辺や二次電子の飛跡末端で生じやすいとされているクラスター損傷（複数の損傷がＤＮＡ上の狭い領域に集中的に生じている）は修復が困難とされているが、その化学構造、線質・エネルギーの違いとの関係についてはほとんど明らかにされていない。我々はこのような損傷の実体を解明するために、2つの蛍光分子間で起こる蛍光共鳴エネルギー移動（FRET）を利用したDNA損傷局在性評価法の開発を行ってきた。すでに、蛍光分子ペアとしてAlexa350及びAlexa488を用いた結果（ヘテロFRET）、炭素線のトラック1本で脱塩基部位（AP）クラスターが一気に生じることを明らかにしている（Radiat.Res.2015）。しかしながら、ヘテロFRETによるプロトコルは、その簡便性や検出感度が十分でなく改善策が必要であった。そこで同一種類の蛍光分子間でのFRET（ホモFRET）を観察することによって損傷局在性を調べる方法を新たに考案した。なお、ホモFRETの大きさは、ヘテロFRETのように蛍光の減衰率から直接求めることができないので、別の指標：蛍光異方性に着目した。
28年度の実験内容及び結果を以下に示す。
（１）ＤＮＡ損傷の局在性を蛍光異方性で評価できるかどうかを確かめるために、損傷間距離既知のモデルＤＮＡに蛍光標識（Alexa488）し、蛍光異方性と損傷間距離の関係を調べた。その結果、損傷間距離の増加に従って蛍光異方性が減少することを確認した。
（２）損傷（AP）をランダムにもつＤＮＡを熱処理によって作成し蛍光異方性を調べた。損傷がランダムな場合の理論曲線と比較した結果、極めて良い一致が見られた。
（３）ブラッグピーク付近の炭素線を乾燥ＤＮＡに照射し、蛍光異方性を測ったところ、飛跡一本でクラスター損傷ができることを確認した。
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| 現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
2: おおむね順調に進展している
理由
(1)蛍光異方性がホモFRETによって減少することを利用した、クラスターDNA損傷解析法の開発に成功した。
(2)27年度までに行っていた、ヘテロFRETによる解析方法の結果と一致することを確認した。検出感度、実験プロトコルの簡便化にも成功した。
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| 今後の研究の推進方策 |
(1)種々の放射線・化学物質を用いて、開発した蛍光異方性による方法によりクラスターDNA損傷の形態を網羅的に調べる
(2)AP以外の損傷への適用方法を開発する
(3)クラスターＤＮＡ損傷の細胞核内可視化方法を開発する
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| 次年度使用額が生じた理由 |
(1)照射実験のための出張が予定より少なかった
(2)蛍光試薬・プラスミドDNAの数量が予定より少なかった
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| 次年度使用額の使用計画 |
(1)照射実験の出張：300千円、(2)国内学会出張：100千円、(3)プラスミドDNA：300千円、(4)蛍光試薬：400千円、(5)DNAオリゴマー：200千円、
合計：1300千円
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