高分子系エッチング型飛跡検出器中に形成されるイオントラック構造についての分析を行った。対象にはポリアリルジグリコールカーボネートPADCとポリカーボネートPC、ポリエチレンテレフタレートPET、ポイリミドPIが含まれている。定量的な分析を行っておりイオントラック長さの単位距離当たりの損傷数(損傷密度)や元の密度において内部の官能基が失われている半径(実効的トラックコア半径)、放射線化学収率(G値)を各官能基について求めた。1 eV/nmから12,000 eV/nmの広い阻止能域のデータを得た。低エネルギー電子の複数ヒットの重要性を明らかにし、イオントラック内径方向電子フルエンスを提唱した。
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