構造制御された機能性分子材料の分子配向に関する性質を、軟X線を用いた炭素K端のXAFS測定により調べた。機能性分子材料の光反応性高分子液晶に対する構造制御は、ライン&スペースパターンを薄膜にインプリントすることにより実施した。深さ方向に依存した分子配向に関する情報を得るために、計測深さの異なる3種類のXAFS同時計測装置の立ち上げを行い、XAFS測定の結果から、光反応性高分子液晶中の液晶分子が表面に平行に配向していることを示し、インプリントした光反応性高分子液晶中の表面近傍の分子配向性を明らかにした。加えて、微小領域のXAFS測定装置の開発を行った。
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