| 研究課題/領域番号 |
16K05730
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
無機化学
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| 研究機関 | 国際基督教大学 |
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研究代表者 |
田 旺帝 国際基督教大学, 教養学部, 教授 (40344501)
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| 研究協力者 |
近藤 敏啓
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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| キーワード | 多孔性配位高分子 / 配向制御多孔性配位高分子薄膜 / SURMOF / X線吸収微細構造 / 酸化物表面 |
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| 研究成果の概要 |
本研究では固体表面における配向制御多孔性配位高分子薄膜(SURMOF)の制御因子を放射光X 線吸収分光(XAFS)を軸とした表面科学的アプローチにより解明する研究を実施した。具体的には、SURMOFの調製条件を探索し、初期段階のSURMOF構造を精密に決定した。次に、SURMOFと固体表面との境界面における結合様式がより精密に決定できるよう、低温偏光全反射蛍光XAFS測定装置の開発を行い、データの信号とノイズの比（S/N）を改良した。そして、本手法により、室温と低温（4 K付近）において、SURMOFの配位構造が可逆的に変化することを捉えた。
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| 自由記述の分野 |
X線吸収微細構造法（XAFS）によるナノ粒子や配位高分子薄膜の構造解明
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
本研究は、高い構造規則性を有する多孔性配位高分子（PCP/MOF）の特性を最大限に引き出すことで、ナノスケールのデバイスとして可能性を秘めた配向制御多孔性配位高分子薄膜（SURMOF）における基礎的知見を得る研究を実施した。具体的には、もっとも初期段階のSURMOFの表面構造を独自に開発した偏光全反射蛍光XAFS法により明らかにし、基板表面における有機配位子の吸着構造が重要な制御因子であることを突き止めた。こうして得られた基礎的知見は、学術的な意義だけでなく、デバイスへの基礎的設計指針を与えることから大きな社会的意義をもつ。
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