| 研究課題/領域番号 |
16K11544
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| 研究機関 | 岡山大学 |
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研究代表者 |
島田 康史 岡山大学, 医歯薬学総合研究科, 准教授 (60282761)
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| 研究分担者 |
北迫 勇一 東京医科歯科大学, 大学院医歯学総合研究科, 非常勤講師 (30361702)
高橋 礼奈 東京医科歯科大学, 歯学部附属病院, 助教 (40613609)
田上 順次 東京医科歯科大学, 大学院医歯学総合研究科, 教授 (50171567)
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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| キーワード | 亀裂 / エナメル質 / 微小亀裂 / 光干渉断層計 / 隣接面 / 脱灰 |
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| 研究実績の概要 |
高齢者は歯に亀裂が生じ、齲蝕や破折の発症に影響する可能性がある。臼歯隣接面は隣在歯と接触し、亀裂の発生が推察される。本研究では3D SS-OCTを用い、臼歯隣接面の亀裂と脱灰の観察をin vitroの実験で評価した。
ヒト抜去小臼歯のうち、隣接面エナメル質に明らかな齲蝕病巣がみられない健全歯またはわずかな白斑病変のみられる歯50本を実験に使用した。まず隣接面について、ICDASによる評価を行い、分類した（1: 健全エナメル質、2: 初期のエナメル質脱灰変化、3: 脱灰によって明らかに変化したエナメル質）。次に3D SS-OCTにて隣接面の3D画像を取得し、2D画像を抽出した。エナメル質の脱灰レベル（DEM 0: 健全エナメル質、DEMⅠ: エナメル質の表層1/3までの初期脱灰、DEMⅡ: エナメル質表層1/3を超え内層1/3には到達しない脱灰、DEMⅢ: エナメル質内層1/3を超えてDEJ付近に達した脱灰）および接触点付近のエナメル質の微小な亀裂を分類し評価した（Type A: 表層のスポット条（点状）の欠陥、Type B: エナメル小柱の走行に沿った亀裂、Type C: エナメル小柱を横断する亀裂、Type D: 混在型亀裂、Type O: 亀裂なし）。ICDASのコード、SS-OCTの脱灰評価および亀裂パターンについて、統計分析を行った。
結果、隣接面のエナメル質において、SS-OCT画像では脱灰病変が輝度の上昇した部位として表示され、エナメル質の微小な亀裂はさらに輝度が上昇し、いくつかの亀裂はエナメル質脱灰に付随してみられた。Spearman correlationによる分析を行った結果、ICDASのコード、SS-OCTによる脱灰評価、SS-OCTの亀裂評価には有意な相関がみられた。またICDASコードとSS-OCT脱灰評価は一致率が極めて高かった。
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