研究課題
前年度に作成・構築したNa-22陽電子線源ベースの静電輸送によるスピン偏極低速陽電子ビーム装置において、実際にビームを出してビーム試験を行なった。150 MBq 程度の線源から放出された高速陽電子を希ガスモデレータで減速・単色化(エネルギー幅は10 eV程度)し、4 keVのエネルギーでビームを輸送した。ビーム装置全体を覆うようコイルを設置し電流を流して地磁気をキャンセルし、地磁気によるビーム軌道に与える影響を低減した。透過型リモデレータ設置予定位置にマイクロチャンネルプレートを置いてビームを観測し、同時にその近くに置いたγ線検出器を用いてビーム強度も評価した。ビーム径は半値全幅で0.2 mm程度、ビーム強度は毎秒1万個程度であった。また、透過型リモデレータより下流側の輝度増強後のビーム輸送レンズ系については、既存のレンズ系を改良した設計とシミュレーションを行なった。このレンズ系は、リモデレータからの再放出陽電子をいったん800 eV程度まで加速し、60 cmほど輸送した後に減速して試料に入射するものである。陽電子ビームはリモデレータ付近で9割方消滅するが、ビームをより遠くに輸送してから回折実験装置に導入することで、陽電子消滅に伴って放出されるγ線由来の回折パターンにおけるバックグラウンドを低減することができる。さらに、実際の陽電子回折実験については、加速器ベースの非スピン偏極陽電子ビームを既存の透過型リモデレータで輝度増強したビームを用いて行ない、Ge(001)-2x1構造の低速陽電子回折パターンの観測に成功した。
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JJAP Conference Proceedings
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e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
