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2次元走査型角度分解光電子マッピング測定システムにおいて、放射光とレーザーを励起光とした線および円2色角度分解光電子分光におけるマッピング手法を確立した。これを用いて、Si(111)上のBi(111)単結晶薄膜の表面電子状態について広波数範囲において試料面内方位角も制御しながら円2色ARPESマッピングの測定を行った。その結果、表面状態のARPESマッピングではバルク結晶の3回対称性も反映した円2色コントラストを示すことや、S2状態では従来報告のなかった特異なコントラストを示すことなど、新規な知見を得ることができた。
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