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低真空対応走査型電子顕微鏡とカソードルミネッセンス測定法の融合により，ガラス基板上のさまざまなナノ構造体の分光評価が可能となる。しかし実際には，試料からの微弱な発光に基板からの強い発光が重畳するために，試料計測は著しく困難であった。本研究では，発光計測に位相シフトスペクトル変調分光法を導入して試料発光のスペクトル分離を実現する高感度カソードルミネッセンス分光顕微鏡を開発した。また，開発した手法をさまざまなナノ物質の光物性研究に適用し，その有効性と汎用性を明らかにした。さらに，有機薄膜の空間選択的発光体生成法の確立を達成した。これらの手法は，今後，ナノ物質の新しい分析法となることが期待される。
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