ヘリウムイオン顕微鏡による全固体電池の構造/充放電特性オペランド計測法の開発

2017 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 16K14104
• 研究種目: 挑戦的萌芽研究
• 配分区分: 基金
• 研究分野: デバイス関連化学
• 研究機関: 国立研究開発法人物質・材料研究機構
• 研究代表者: 酒井 智香子 国立研究開発法人物質・材料研究機構, ナノ材料科学環境拠点, NIMSポスドク研究員 (90580407)
• 研究期間 (年度): 2016-04-01 – 2018-03-31
• キーワード: ヘリウムイオン顕微鏡 / 電位分布計測 / アクティブ電圧コントラスト / 積層型セラミックコンデンサ / ペロブスカイト太陽電池 / 全固体リチウムイオン二次電池

研究成果の概要

ヘリウムイオン顕微鏡(HIM)を用いたアクティブ電圧コントラスト(AVC)画像化と、電位を定量的に評価できるケルビンプローブフォース顕微鏡を用いた接触電位差画像化とを組み合わせ、新しい電位分布計測手法の開発を行うことができた。In-situ電圧印加機構をHIM装置に導入し、試料に任意の電圧(±5 V)印加が可能になった。積層型セラミックスコンデンサへの印加電圧が1.5 V以下の際、二次電子(SE)像に電位を反映したAVCが観察できた。試料提供を受けることのできたペロブスカイト太陽電池のHIM観察を行った。有機材料が含まれているが、金属吸着を行わなくてもSE像を取得できた。

自由記述の分野

表面物性