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透過型電顕試料用のプロトコルにより、野生型および遺伝子改変マウス脳組織から試料（非標識）を作製した。従来のssTEM法と福井大学深澤教授グループが最適化したFIB-SEM法で並行して解析し、両者の結果を比較した。ssTEM法では認められなかったシナプス形態異常をFIB-SEM法により見出すことができた。これは深さ方向の切片厚の差（50nm vs. 5nm）によるところが大きいが、ssTEM法には精細な2次元像を広範囲で取得できるメリットがあるため、両者の利害得失を知って併用することが重要と思われる。3D免疫電顕の比較は現在進行中である。
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