| 研究課題/領域番号 |
16K16031
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
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研究代表者 |
小笠原 泰弘 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員 (30635298)
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2020-03-31
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| キーワード | PUF / 真贋判定 / 回路設計 / BIST / 真正乱数 |
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| 研究成果の概要 |
本研究では半導体チップの偽造品の流通を防止するための技術である、真贋判定技術PUFの実用化のための課題について取り組んだ。PUF技術は出荷前に真贋判定の際に用いる認証情報を、製造した半導体チップから取り出す必要がある。さらに、出荷後には特定のシーケンスでのみ認証できるようにして、認証情報そのものにはアクセスできないようにする必要がある。
本研究ではPUF回路の認証時の入力と応答のペアを出荷前に多数取得するための回路を埋め込み、さらに出荷時の検査後にこの回路を破壊することで、出荷後に悪意あるものが認証情報を取得することを防ぐ仕組みを提案し、回路のシミュレーションにおいて動作、性能を実証した。
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| 自由記述の分野 |
回路設計
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
半導体チップの偽造品はすでに多数流通しており、専門的な報告のみならず、一般市民の目に触れる技術ニュース等でも取り上げられている。本研究成果は単にPUF技術の回路を提案する他の研究とは異なり、PUF技術を実際に実装し、製品に搭載して真贋判定の認証システムを運用する上で重要な役割を果たす。
本研究成果により正規の事業者が十分な量の認証情報の取得し、悪意あるものが認証情報を取得することを防ぐことの両方が同時に実現される。さらに、本手法により十分な量の認証情報を取得することにより、最新の攻撃技術である機械攻撃によるPUFへの攻撃に対しても十分な耐性を得ることが可能となる。
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