研究課題
若手研究(B)
本研究では、2次元走査型顕微XAFS法 (Nano-XAFS法) や、3次元イメージング法であるコンピュータートモグラフィーと組み併せたCT-XAFS法を開発し、これらの計測法を実固体触媒材料のオペランド計測へ応用した。自動車排ガス浄化助触媒材料や固体高分子形燃料電池電極触媒膜における固体触媒材料の反応や劣化過程の2次元及び3次元可視化の観点より実用材料が抱える諸問題解決の糸口となる構造基盤情報を明らかにした。
触媒化学、XAFS