| 研究課題/領域番号 |
16K21673
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| 研究機関 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
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研究代表者 |
堂前 篤志 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 主任研究員 (20357552)
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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| キーワード | SI単位系 / インピーダンス / 標準器 |
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| 研究実績の概要 |
2018年以降、SI単位系は基礎物理定数を基にした新体系（新SI単位系）へ移行する見込みである。新SI単位系に基づく先端エネルギーデバイス（LIBや燃料電池など）の評価体系の構築を最終目的に、本課題ではその評価体系のキーデバイスとなる参照インピーダンス標準器を開発し、その性能をISOガイドに従い評価することを目指している。本年度は研究計画に従い、参照インピーダンス標準器の製作および1次評価を並行して行い、1次評価結果を製作にフィードバックさせることで参照インピーダンス標準器に起因した不確かさの低減を目指す。
参照インピーダンス標準器を製作し、その1次評価を行った結果、参照インピーダンス標準器の接続端子部における接触抵抗の再現性が測定結果に影響を与えていることが明らかとなった。そのため、接触抵抗の再現性が向上するよう接続端子部の改良を行った。改良にあたっては接続端子部だけでなくシールド箱の設計変更も行った。また、抵抗値ドリフト抑制を目的にアニール処理を行う際、参照インピーダンス標準器の製作後にアニール処理を行うと接続端子部の耐熱温度の制限のためアニール処理の温度が低くなってしまい、抵抗値ドリフト抑制の効果があまりえられないことが判明した。そのため、抵抗線材のみでアニール処理を行ってから参照インピーダンス標準器の製作するように製作手順の改良を行った。
以上で得られた知見を基に、再度、参照インピーダンス標準器を製作し、評価を継続している。
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| 現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
3: やや遅れている
理由
温調器のマシンタイムや測定用PCの不具合により、抵抗値ドリフトの評価に遅れが生じた。
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| 今後の研究の推進方策 |
1次評価結果を反映させた参照インピーダンス標準器の評価を継続する。また、周囲温度の影響などの不確かさ要因についても検討を行っていく。
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| 次年度使用額が生じた理由 |
部材の納入金額が見積合わせによって想定より安価になったため次年度使用額が生じた。この金額は30年度の部材購入に充てる予定である。
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