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2006 年度 研究成果報告書概要

イオン注入によるナノ構造シリコンの構造・発光制御とその光機能デバイスとしての応用

研究課題

研究課題/領域番号 17510098
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 ナノ材料・ナノバイオサイエンス
研究機関愛知教育大学

研究代表者

岩山 勉  愛知教育大学, 教育学部, 助教授 (70223435)

研究期間 (年度) 2005 – 2006
キーワードシリコン / イオン注入 / ナノ構造 / 可視発光 / 光機能デバイス / シリコンフォトニクス / RTA / ナノクリスタル
研究概要

本研究はイオンビームによりナノ構造シリコンの微細構造を制御し、核形成、拡散、凝集プロセス、結晶性、界面構造、ナノ結晶サイズ分布等の微細構造を総合的に制御し、発光強度、非線形光学特性等の最大化、プロセスの低温化の達成等とともに、実用的な光機能デバイス実現のための基礎研究を目的としたものである。本研究の特徴はイオン注入法によりドライ・クリーンな雰囲気のもとで絶縁体中に埋め込まれたナノ構造シリコンを作製することであり、従来の半導体プロセスとの整合性を持ち、清浄性、化学的安定性等の点で近年特に注目されている。また、急速ランプ加熱と電気炉を併用することで、高分散性、高発光効率、低温化など本研究で当初目的としたことをほぼ達成することができた。
今回の研究では注入時の加速エネルギーを段階的に変化させ、シリコンを多重注入することにより注入シリコンが二酸化シリコン中で深さ方向に対して近似的に方形的な分布を持つ試料を作製し、過剰シリコン濃度の試料内での均一化をはかった。注入後、注入シリコンを析出・凝集させるために高温での熱処理が必要となるが、この電気炉による高温熱処理前に急速ランプ加熱により短時間熱処理を行うことで発光効率が1桁ほど向上することがわかった。この前処理により、注入イオンの拡散、核形成、結晶成長プロセスなどが複雑に変化し、その結果として、ナノクリスタルの微細構造が影響を受け、発光強度が変化するものと考えられる。さらに、前述の高温熱処理は一般的に千度以上が必須であったが、急速ランプ加熱を併用することでこの処理温度の低温化も可能で、半導体プロセスでネックとなる「高温熱処理」もある程度克服することが可能となった。さらに、ここで得られた結果から、私たちの提案している発光モデルの妥当性も確認することができた。

  • 研究成果

    (12件)

すべて 2007 2006 2005 その他

すべて 雑誌論文 (12件)

  • [雑誌論文] Lamp annealing effects on the formation process of implanted silicon nanocrystals in SiO_2.2007

    • 著者名/発表者名
      T.S.Iwayama
    • 雑誌名

      Nucl. Instrum. Methods B 257

      ページ: 85-89

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Lamp annealing effects on the formation process of implanted silicon nanocrystals in SiO_2.2007

    • 著者名/発表者名
      T.S.Iwayama, T.Hama, D.E.Hole
    • 雑誌名

      Nucl. Instrum. Methods B 257

      ページ: 85-89

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] Low temperature formation of luminescent Si nanocrystals in SiO_2 with rapid thermal anneals.2006

    • 著者名/発表者名
      T.Hama
    • 雑誌名

      Proceedings of the 24th Symposium on Materials Science & Engineering Research Center of Ion Beam Technology 24

      ページ: 7-12

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Enhanced luminescence from encapsulated silicon nanocrystals in SiO_2 with rapid thermal anneal.2006

    • 著者名/発表者名
      T.S.Iwayama
    • 雑誌名

      Vacuum 81

      ページ: 179-185

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Low temperature formation of luminescent Si nanocrystals in SiO_2 with rapid thermal anneals.2006

    • 著者名/発表者名
      T.Hama, T.S.Iwayama, D.E.Hole
    • 雑誌名

      Proceed. Symposium on Materials Sci. & Eng. 24

      ページ: 7-12

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] Enhanced luminescence from encapsulated silicon nanocrystals in SiO_2 with rapid thermal anneal.2006

    • 著者名/発表者名
      T.S.Iwayama, T.Hama, D.E.Hole, I.W.Boyd
    • 雑誌名

      Vacuum 81

      ページ: 179-185

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] Enhancement of luminescence from encapsulated Si nanocrystals in SiO_2 with rapid thermal anneals.2005

    • 著者名/発表者名
      T.S.Iwayama
    • 雑誌名

      Nucl. Instrum. Methods B 230

      ページ: 203-209

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Enhancement of luminescence from encapsulated Si nanocrystals in SiO_2 with rapid thermal anneals.2005

    • 著者名/発表者名
      T.S.Iwayama, T.Hama, D.E.Hole, I.W.Boyd
    • 雑誌名

      NJucl. Instrum. Methods B 230

      ページ: 203-209

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] Control of embedded Si nanocrystals in SiO_2 by rapid thermal anneals and enhanced photoluminescence characterization.

    • 著者名/発表者名
      T.S.Iwayama
    • 雑誌名

      Surf. Coat. Tech. (in press)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] RTA effects on the formation process of embedded luminescent Si nanocrystals in SiO_2.

    • 著者名/発表者名
      T.S.Iwayama
    • 雑誌名

      Microelectronics Reliability (in press)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Control of embedded Si nanocrystals in SiO_2 by rapid thermal anneals and enhanced photoluminescence characterization.

    • 著者名/発表者名
      T.S.Iwayama, T.Hama D.E.Hole, I.W.Boyd
    • 雑誌名

      Surf. Coat. Tech. (in press)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] RTA effects on the formation process of embedded luminescent Si nanocrystals in SiO_2.

    • 著者名/発表者名
      T.S.Iwayama, T.Hama, D.E.Hole
    • 雑誌名

      Microelectronics Reliability (in press)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より

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公開日: 2008-05-27  

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