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2006 年度 研究成果報告書概要

高性能EB-PVDコーティングの応力と強度評価

研究課題

研究課題/領域番号 17560068
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 機械材料・材料力学
研究機関新潟大学

研究代表者

鈴木 賢治  新潟大学, 人文社会・教育科学系, 教授 (30154537)

研究期間 (年度) 2005 – 2006
キーワードTBC / EB-PVD / X線応力測定 / 残留応力 / シンクロトロン放射光 / 高温酸化 / 熱サイクル / ジルコニア
研究概要

ガスタービンの高温燃焼と高信頼性を目的として基板を回転して電子ビーム物理蒸着(Electron Beam-Physical Vapor Deposition)法で成膜したジルコニア遮熱コーティングの応力と強度評価について研究を行った.EB-PVDによるジルコニア遮熱コーティングは複雑かつ強い配向組織のために,従来のX線応力測定法が適用できない.回転しない場合は,基材に垂直方向に<111>の優先方位をもつ柱状晶であり,5rpm,10rpmおよび20rpmでは基材に垂直方向に<100>の優先方位をもつ柱状晶であった.特に,回転成膜した場合は,羽毛状の形態をし,(111)面がピラミッドの4面をなして成長する.
このような配向膜の残留応力測定方法を確立するために,X線回折装置を改良して側傾法試料台に面内回転装置を試作して,面内方向の残留応力測定を可能にした.また,高エネルギー放射光を利用して,面外方向の残留ひずみを測定した.
これらの結果をあわせて,EB-PVDジルコニア遮熱コーティングの3次元の残留応力分布を解析した.これらの結果から,回転成膜をしないジルコニア膜は,大きな圧縮残留応力によりコーティングの破壊が促進されること,回転成膜速度が0,5,10,20rpmの順で圧縮残留応力が低下することが明らかとなった.1273K,200時間の高温酸化させた残留応力も解析し,圧縮残留応力の低下および焼結の影響が確認された.
一方,熱サイクルをに伴う内部応力の変化挙動も解明した.その結果,熱サイクルによる内部応力の変化を基板回転法により低減できることも5rpmおよび10rpmの熱サイクル実験から得られ,より高強度・信頼性の成膜の可能性が明らかとなった.

  • 研究成果

    (13件)

すべて 2007 2006 その他

すべて 雑誌論文 (11件) 図書 (2件)

  • [雑誌論文] EB-PVDによる遮熱コーティングの残留応力のX線評価2007

    • 著者名/発表者名
      鈴木賢治, 和田国彦, 松原秀彰, 菖蒲敬久, 川村昌志, 田中啓介
    • 雑誌名

      材料 Vol.56, No.7(印刷中)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Evaluation of residual stress distribution and deformation characteristics of thermal barrier coatings using hard synchrotron X-rays2007

    • 著者名/発表者名
      K.Suzuki, K.Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Neutron Research Vol.15(in printing)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Residual stress in zirconia coating by EB-PVD method,2007

    • 著者名/発表者名
      K.Suzuki, K.Wada, H.Matsubara, T.Shobu, M.Kawamura, K.Tanaka
    • 雑誌名

      Journal of Materials Science, Japan Vol.57, No.7(in printing)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] 曲面上の遮熱コーティングの残留応力と変形特性2006

    • 著者名/発表者名
      鈴木賢治, 川村昌志, 菖蒲敬久, 田中啓介, 秋庭義明
    • 雑誌名

      材料 Vol.55, No.7

      ページ: 634-640

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Residual Stress in EB-PVD Thermal Barrier Coatings2006

    • 著者名/発表者名
      K.Suzuki, K.Tanaka, T.Shobu
    • 雑誌名

      Materials Science Forum Vol.524-525

      ページ: 879-884

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Strain Measurement in the Depth of the Order of Millimeter Using High Energy White X-rays2006

    • 著者名/発表者名
      T.Hirata, J.Shibano, T.Shobu, K.Suzuki, H.Kaneko, M.Kobayashi
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials Vol.324-325

      ページ: 1225-1228

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] High Space-Resolutive Evaluation of Subsurface Stress Distribution by Strain Scanning Method with Analyzer Using High-Energy Synchrotron X-Rays2006

    • 著者名/発表者名
      T.Shobu, J.Mizuki, K.Suzuki, Y.Akiniwa, K.Tanaka
    • 雑誌名

      JSME Int. J., Ser. A Vol.49, No.3

      ページ: 376-381

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
  • [雑誌論文] Akiniwa, Residual stress and deformation characteristics of thermal barrier coatings on curved substrate2006

    • 著者名/発表者名
      K.Suzuki, M.Kawamura, T.Shobu, K.Tanaka, Y.
    • 雑誌名

      Journal of Materials Science, Japan Vol.56, No.7

      ページ: 634-640

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] Residual stress in EB- PVD thermal barrier coatings2006

    • 著者名/発表者名
      K.Suzuki, K.Tanaka, T.Shobu
    • 雑誌名

      Materials Science Forum Vol.524-525

      ページ: 879-884

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] Strain measurement in the depth of the order of millimeter using high energy white X-rays2006

    • 著者名/発表者名
      T.Hirata, J.Shibano, T.Shobu, K.Suzuki, H.Kaneko, M.Kobayashi
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials Vol.324-325

      ページ: 1225-1228

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [雑誌論文] High space-resolutive evaluation of subsurface stress distribution by strain scanning method with analyzer using high-energy synchrotron X-rays

    • 著者名/発表者名
      T.Shobu, J.Mizuki, K.Suzuki, Y.Akiniwa, K.Tanaka
    • 雑誌名

      JSME Int.J., Ser.A Vol.49, No.3

      ページ: 376-381

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [図書] Evaluation of Residual Sresses by X-Ray Diffraction-Fundamentals and Applications2007

    • 著者名/発表者名
      K.Tanaka, K.Suzuki, Y.Akiniwa
    • 総ページ数
      1-367
    • 出版者
      Yokendo Ltd.Tokyo, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
  • [図書] 残留応力のX線評価-基礎と応用-2006

    • 著者名/発表者名
      田中啓介, 鈴木賢治, 秋庭義明
    • 総ページ数
      363
    • 出版者
      養賢堂
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より

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公開日: 2008-05-27  

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